TEM顯微鏡用于高生產率、高分辨率的TEM和具有化學定量的STEM表征。

適用于高分辨率 TEM 和 STEM 以及準確化學定量的 TEM 顯微鏡。

用于光束敏感材料的高對比度成像的TEM和STEM分析。

The Talos L120C TEM 的平臺式設計具備了模塊多功能化，ZG的穩定性及操作的便捷性，從而提供可靠的ZJ成像性能。

專用掃描透射顯微鏡HD-2700，配備了與德國CEOS GmbH公司（總經理Max Haider先生）共同開發的球差校正儀，顯著提高了掃描透射電子顯微鏡的性能，更適合高級納米技術研究。由于球差校正系統校正了限制電子顯微鏡的性能的球差，使其與標準型號顯微鏡相比，分辨率提高了1.5倍，同時，探針電流提高了10倍。