儀器網>產品中心>光學儀器>電子光學儀器>透射電鏡/透射電子顯微鏡更新時間：2025-08-21 01:40:17

透射電鏡/透射電子顯微鏡

（共131件相關產品信息）

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推薦廠商：: 深圳藍星宇

 賽默飛世爾

產品分類：: 更多掃描電鏡/掃描電子顯微鏡透射電鏡/透射電子顯微鏡掃描探針顯微鏡/原子力顯微鏡/掃描隧道顯微鏡/磁力顯微鏡/靜電力顯微鏡電子背散射衍射系統EBSD 掃描透射電鏡/掃描透射電子顯微鏡電鏡附件其它電子光學儀器

電子槍：: 不限鎢燈絲場發射六硼化鑭六硼化鈰

產品產地：: 不限中國大陸大洋洲歐洲亞洲美洲

廠商性質：: 不限自營代理經銷

銷售地區：: 不限售全國售本省售本市

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德國布魯克

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日立

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透射電子顯微鏡 HT7800系列

品牌：日立型號：HT7800系列產地：亞洲日本

廠商：似空科學儀器（上海）有限公司

簡介：～從生物醫學到材料領域～以創新的操作性，滿足廣泛領域的需求。新一代TEM"RuliTEM"誕生。
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透射電子顯微鏡 HT7700

品牌：日立型號：HT7700 產地：亞洲日本

廠商：似空科學儀器（上海）有限公司

簡介：日立HT7700 : 數字一體化的TEM操作平臺，操作簡便的通用性設計 HT7700優異的高反差、高分辨圖像觀察與強大的分析擴展功能，可為生物醫學、醫藥、食品、農業、高分子、化學、納米材料等多領域提供**的TEM解決方案。
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透射電子顯微鏡 H-9500

品牌：日立型號：H-9500 產地：亞洲日本

廠商：似空科學儀器（上海）有限公司

簡介：為了滿足這種高端需求，日立高新技術公司研發出了 H-9500透射電子顯微鏡，此款高分辨透射電子顯微鏡不僅具備實地驗證過的各種性能，而且配置了很多滿足客戶多種需求的獨特功能，并采用了zuixin的數字技術，便于用戶及時快速獲取原子水平的樣品結構信息。
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￥2600000

二手 FEI Tecnai F30 透射電子顯微鏡 TEM

品牌：美國FEI 型號：Tecnai F30 產地：美洲美國

廠商：上海愛儀通網絡科技有限公司
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￥2400000

二手 FEI Tecnai F20 透射電子顯微鏡 TEM

品牌：美國FEI 型號： Tecnai F20 產地：美洲美國

廠商：上海愛儀通網絡科技有限公司
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賽默飛 Talos F200X G2 透射電子顯微鏡 S/TEM

品牌：賽默飛型號：Talos F200X S/TEM 產地：美洲美國

廠商：上海愛儀通網絡科技有限公司

簡介：可搭配眾多高分辨率場發射槍 (FEG) 選擇高亮度 X-FEG 或超高亮度冷場發射槍 (X-CFEG)。X-CFEG 將極佳 (S)/TEM 成像及極佳能量分辨率相結合。直觀的軟件 Thermo Scientific Velox 軟件可實現對多模式數據的快速、輕松的采集和分析。更短的化學成分獲得周期快速、精確的定量 EDS 分析可在 2D 和 3D 中揭示納米級細節，同時保持高潔凈度。更好的圖像數據高通量 STEM 成像采用同步多信號檢測，可為高質量圖像提供更高的對比度。更多空間為動態實驗添加特定用途的原位樣品桿。高質量 (S)TEM 圖像和準確的 EDS 通過創新且直觀的 Velox 軟件用戶界面采集高質量的 TEM 或 STEM 圖像。Velox 軟件中獨特的 EDS 吸收校正功能可實現極準確的定量。高度可重復的數據采集所有日常 TEM 調整、例如聚焦、共心高度、電子束移位、冷凝器光闌、電子束傾斜樞軸點和旋轉中心都是自動進行的，確保您始終從Z佳成像條件開始工作。實驗可以能夠再現的方式重復進行，從而使您能夠專注于研究而非儀器操作。提高了生產率超穩定的色譜柱、借助 SmartCam 的遠程操作和恒定功率物鏡，可進行快速模式和高電壓 (HT) 切換。多用戶環境的快速輕松切換。
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賽默飛 Talos L120C 透射電子顯微鏡TEM

品牌：賽默飛型號：Talos L120C 產地：美洲美國

廠商：上海愛儀通網絡科技有限公司

簡介：提高穩定性系統外殼堅固耐用，恒定功率透鏡，且支持遠程操作，可穩定使用。自動化多種自動化功能（自動電子槍、自動對齊）提高了結果的重復性和重現性。高質量成像 4k × 4K Thermo Scientific Ceta CMOS 相機具有大視野，可進行高靈敏度、高速實時數字放大。上樣速度快穩健的真空系統提供了無污染的環境，可在氣閘關閉后快速恢復。數據關聯 Maps 軟件有助于在多種尺度下進行自動化且無人照看的大面積采集。冷凍成像借助Thermo Scientific EPU 軟件，在冰生長極少的情況下觀察冷凍樣品，并自動進行單顆粒分析成像。
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賽默飛 Talos F200i 透射電子顯微鏡TEM

品牌：賽默飛型號： Talos F200i 產地：美洲美國

廠商：上海愛儀通網絡科技有限公司

簡介：可搭配眾多高分辨率場發射槍 (FEG) 選擇 X-FEG、高亮度 X-FEG 或超高亮度冷場發射槍 (X-CFEG)。X-CFEG 將極佳 (S)/TEM 成像及極佳能量分辨率相結合。可搭配雙 EDS 技術從單個 30 mm2 檢測器到用于高通量（或低劑量）分析的雙 100 mm2 檢測器中，選擇Z適合您需求的 EDS 檢測器。高質量 STEM/TEM 圖像和準確的 EDS 創新且直觀的 Velox 軟件用戶界面非常簡單，從而輕松獲得高質量的 TEM 或 STEM 圖像。Velox 軟件中獨特的 EDS 吸收校正功能可實現Z準確的定量。 Z全面的原位功能添加斷層掃描或原位樣品架。快速攝像機、智能軟件和我們的寬 X-TWIN 物鏡間隙可在盡可能不降低分辨率和分析功能的情況下實現 3D 成像和原位采集。提高了生產率超穩定的色譜柱、借助 SmartCam 的遠程操作和恒定功率物鏡，可進行快速模式和高電壓 (HT) 切換。多用戶環境的快速輕松切換。可重復性Z高的數據所有日常 TEM 調整、例如聚焦、共心高度、電子束移位、冷凝器光闌、電子束傾斜樞軸點和旋轉中心都是自動進行的，確保您始終從Z佳成像條件開始工作。實驗可重現，使您可以專注于研究，而不是工具。高速提供大視野成像 4k × 4k Ceta CMOS 攝像機及其大視野使得可以在整個高張力范圍內以高靈敏度和高速進行實時數字縮放。緊湊型設計更小的占地面積和尺寸有助于在更具挑戰性的空間中使用此工具，同時降低基礎設施和支持成本。
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布魯克Hysitron PI 95透射電鏡測試系統

品牌：布魯克型號：Hysitron PI 95 產地：美洲美國

廠商：冠乾科技（上海）有限公司
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自動進樣場發射透射電鏡

品牌：日本電子型號：JEM-F200 產地：亞洲日本

廠商：深圳市科時達電子科技有限公司

簡介： 2016年新年伊始，日本電子株式會社（JEOL）即全球同步推出了新款場發射透射電鏡JEM-F200。
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美國Delong 臺式透射電子顯微鏡LVEM5（Bench-top TEM)

品牌：捷克Delong Instruments 型號：DelongLVEM5（Bench-topTEM) 產地：歐洲其它

廠商：深圳市科時達電子科技有限公司

簡介：美國Delong 臺式透射電子顯微鏡LVEM5（Bench-top TEM),小型臺式多用途電子顯微鏡，透射電鏡（TEM）、電子衍射（ED）、掃描電鏡（SEM）、掃描透射電鏡（STEM）四種成像模式，分辨率：1.5nm（TEM）；10nm（SEM）。
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Tundra 冷凍透射電子顯微鏡 (Cryo-TEM)

品牌：賽默飛世爾型號：Tundra(Cryo-TEM) 產地：美洲美國

廠商：深圳市科時達電子科技有限公司

簡介：冷凍電鏡技術獲取生命過程中相關生物機器的結構信息對于充分理解生物學過程和疾病的發病機制至關重要。值得注意的是，在基礎生物學或疾病發病機制中起關鍵作用的蛋白質，經常具有多重構象或者與其他蛋白質相互作用形成復合體，這一情況變得日益明顯。這些大的和/或動態的體系給傳統 3D 結構解析方法帶來了挑戰。
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日立120kV透射電鏡HT7800

品牌：日立型號：120kVHT7800 產地：亞洲日本

廠商：深圳市科時達電子科技有限公司

簡介：日立新一代全數字化120kV透射電子顯微鏡HT7800，屬于日立瑠璃系列產品Ruli TEM，操作的一體化和自動化程度都有明顯提高。HT7800系列產品有兩個型號HT7800和HT7830。 HT7800系列產品的ZD特點是采用日立ZX設計的第二代雙隙物鏡，很好地繼承了日立120kV-TEM的基本理念，兼顧低倍率與寬視野觀察、高襯度與高分辨率觀察，可在同一儀器上一鍵切換等。集高襯度和高
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HF-3300場發射透射電子顯微鏡

品牌：日立型號：HF-3300 產地：亞洲日本

廠商：深圳市科時達電子科技有限公司

簡介：日立馳名的冷場發射電子源和300 kV加速電壓技術共同打造了超高分辨率成像和高靈敏度分析功能。雙棱鏡全息技術，空間分辨電子能量損失譜以及高精度平行納米電子束衍射技術開辟了高效，高精度樣品分析的新途徑。
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賽默飛Talos L120C TEM透射電子顯微鏡

品牌：賽默飛世爾型號：TalosL120CTEM 產地：美洲美國

廠商：深圳市科時達電子科技有限公司

簡介： alos L120C TEM產品描述Talos L120C TEM在為模塊化多功能性、ZD穩定性和操作簡便性而設計的平臺上提供經驗證的ZJ成像性能。Thermo ScientificTM TalosTM L120C TEM通過模塊化設計和改進的光學穩定性，從而產生超高的觀測效率、穩定的運行時間以及舒適的操作體驗。Talos L120C TEM是入門級冷凍研究的理想解決方案，簡單的點擊成像，以及用于
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顯微鏡載物臺（電動/壓電）

品牌：昊量/auniontech 型號：1 產地：上海徐匯區

廠商：上海昊量光電設備有限公司

簡介：昊量光電設備有限公司推出的平臺專業設計普遍適用于市面上大部分的正置/倒置顯微鏡。可以供手動平臺、電動平臺、壓電與步進電機混合運動平臺、手動與壓電集成平臺。平臺每個軸都采用閉環反饋控制，可以提供更高的分辨率和可重復性。Z軸采用壓電陶瓷平臺，可提供納米級的定位精度，行程從150μm-500μm可選。
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日立L型 FIB-SEM-Ar 三束系統 NX9000

品牌：日立型號：NX9000 產地：亞洲日本

廠商：日立科學儀器（北京）有限公司

簡介：-高亮度場發射電子槍冷冷場發射電子槍先天具有的高亮度和高能量分辨率的特點，使納米量分析研究成為可能，對超高分辨圖像和電子全息攝影具有大貢獻。 -300kV高壓系統 300kV高壓系統具有更高的穿透能力，保證了厚樣品的原子分辨率圖像，降低了樣品制備難度，尤其對于金屬、陶瓷等高原子序數樣品的觀測十分有利。 -特的分析能力新引入了雙重雙棱鏡全息攝影功能、高空間分辨率電子能量損失譜（EELS）和高精度平行納米束衍射技術等特的分析技術。
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賽默飛（原FEI）Talos L120C TEM透射電子顯微鏡

品牌：賽默飛世爾型號：Talos L120C 產地：美洲美國

廠商：賽默飛電子顯微鏡

簡介：The Talos L120C TEM 的平臺式設計具備了模塊多功能化，ZG的穩定性及操作的便捷性，從而提供可靠的ZJ成像性能。
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光片顯微鏡專用物鏡

品牌：昊量/auniontech 型號：1 產地：上海徐匯區

廠商：上海昊量光電設備有限公司

簡介：光片顯微鏡的顯著特征是照明和成像兩個物鏡垂直放置。其中物鏡了工作距離，成像效果等。為了更好的成像效果昊量光電推出了專用于光片成像的物鏡
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日立新型雙束系統 NX2000

品牌：日立型號：NX2000 產地：亞洲日本

廠商：日立科學儀器（北京）有限公司

簡介：1.高分辨成像，高襯度成像分辨率：二次電子（3.5nm@1kV），二次離子（4nm@30kV）； 2.可實時觀察加工過程； 3.全自動TEM樣品制備。
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北京萊普特 LED藍光切膠儀/ 藍光透射儀 BRC-I

品牌：北京萊普特型號：BRC-I 產地：北京海淀區

廠商：萊普特科學儀器（北京）有限公司

簡介：BRC-I藍光切膠儀/藍光投射儀用于凝膠電泳觀察，采用超亮的長壽命LED燈作為光源，可以觀察拍攝多種染料。光照強且不會對人體皮膚和眼睛造成的輻射傷害，也不用擔心長時間照射導致核酸片段斷裂、交聯、替換等對樣品的傷害，使用壽命超長，體積小，移動方便。
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賽默飛（原FEI）Talos F200C TEM透射電子顯微鏡

品牌：賽默飛世爾型號：Talos F200C 產地：美洲美國

廠商：賽默飛電子顯微鏡

簡介：支持范圍廣泛的用戶: 憑借完全數字化的界面、領先的人體工程學設計以及遙控特征，Talos F200C TEM 使較廣范圍的用戶都能夠擁有功能強大的生物及生物材料樣品三維表征能力。
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LED藍光切膠儀/ 藍光透射儀

品牌：北京萊普特型號： LED藍光產地：北京海淀區

廠商：萊普特科學儀器（北京）有限公司
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賽默飛（原FEI）Helios 5 激光 PFIB

品牌：賽默飛世爾型號：Helios 5 產地：美洲美國

廠商：賽默飛電子顯微鏡

簡介：完全集成飛秒激光系統的Thermo Scientific Helios 5 Laser PFIB，這是一臺先進的聚焦離子束掃描電子顯微鏡（FIB-SEM），可以利用納米級分辨率實現快速3D表征毫米尺度材料。
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賽默飛（FEI）Aquilos 2 Cryo-FIB冷凍聚焦離子束顯微鏡

品牌：賽默飛世爾型號：Aquilos 2 Cryo-FIB 產地：美洲美國

廠商：賽默飛電子顯微鏡

簡介：Thermo Scientific Aquilos 2 Cryo Focused Ion Beam（冷凍聚焦離子束顯微鏡，Cryo-FIB）是一款專用的冷凍雙束顯微鏡系統，可為高端冷凍透射電鏡斷層掃描分析提供ZJ的樣品制備流程。

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新品推薦: 日立 NX9000 直角型FIB-SEM系統; 日本電子 JEM-120i 透射電子顯微鏡 TEM; 國儀量子 TH-F120 場發射透射電子顯微鏡 TEM; 賽默飛世爾透射電子顯微鏡 Talos F200S G2 TEM
TEM顯微鏡用于高生產率、高分辨率的TEM和具有化學定量的STEM表征。; 賽默飛世爾透射電子顯微鏡 Talos F200X G2 TEM
適用于高分辨率 TEM 和 STEM 以及準確化學定量的 TEM 顯微鏡。; 賽默飛世爾透射電子顯微鏡 Talos F200C TEM
用于光束敏感材料的高對比度成像的TEM和STEM分析。; 賽默飛（原FEI）Talos L120C TEM透射電子顯微鏡
The Talos L120C TEM 的平臺式設計具備了模塊多功能化，ZG的穩定性及操作的便捷性，從而提供可靠的ZJ成像性能。; HD-2700球差校正掃描透射電子顯微鏡
專用掃描透射顯微鏡HD-2700，配備了與德國CEOS GmbH公司（總經理Max Haider先生）共同開發的球差校正儀，顯著提高了掃描透射電子顯微鏡的性能，更適合高級納米技術研究。由于球差校正系統校正了限制電子顯微鏡的性能的球差，使其與標準型號顯微鏡相比，分辨率提高了1.5倍，同時，探針電流提高了10倍。