使用Park NX10在nature上發(fā)表的論文有：

1）Probing charge screening dynamics and electrochemical processes at the solid–liquid interface with electrochemical force microscopy

2）Effect of pH on the structure and drug release profiles of layer-by-layer assembled films containing polyelectrolyte, micelles, and graphene oxide

3）Electrostatic-free piezoresponse force microscopy

4） Highly Permeable Graphene Oxide Polyelectrolytes Hybrid Thin Films for Enhanced CO 2N 2 Separation Performance

5） Surface Engineering for Mechanical Enhancement of Cell Sheet by Nano-Coatings

6）Polymorphic design of DNA origami structures through mechanical control of modular components

7）Micro 3D Printing of a Temperature- Responsive Hydrogel Using Projection Micro-Stereolithography

8）Nanostructured Polymer Thin Films Fabricated with Brush-based Layer-by-Layer Self-assembly for Site-selective Construction and Drug release

9）Origin of macroscopic adhesion in organic light-emitting diodes analyzed at different length scales

納米科學(xué)研究的zui佳途徑

Park NX10為您帶來zui高納米級分辨率的數(shù)據(jù)，值得您信賴、使用和擁有。無論是從樣品設(shè)定還是到全掃描成像、測量與分析，Park NX10都可以在保證您專注于創(chuàng)新研究工作的同時(shí)提供高精度的數(shù)據(jù)。

Park SmartScan 智能模式

在SmartScan Auto獨(dú)有的智能模式下，系統(tǒng)自動執(zhí)行所有必要的成像操作，同時(shí)智能選擇zui佳的圖像質(zhì)量和掃描速度。這是通過Park的ZG技術(shù)才得以實(shí)現(xiàn)的。它不僅可以為用戶節(jié)省時(shí)間和成本，還可以為用戶帶來zui好的研究成果。

Park消除串?dāng)_技術(shù)

Park NX10可以為用戶帶來zui高納米級分辨率的數(shù)據(jù)，它是全球wei一一個(gè)實(shí)現(xiàn)真正非接觸模式的原子力顯微鏡，在延長探針使用壽命的同時(shí)，還可以良好地保護(hù)樣品不受損壞，延長樣品的使用壽命。可彎曲的獨(dú)立的XY和Z掃描儀可帶來chao強(qiáng)精確度和分辨率。

Park先進(jìn)的原子力顯微鏡模式

Park原子力顯微鏡具有綜合的掃描模式，可幫助用戶準(zhǔn)確有效地收集各種數(shù)據(jù)類型。

1.        掃描范圍為50 μm x 50 μm 的2D掃描器

XY軸掃描器有對稱的二維高強(qiáng)度壓電疊堆。它可為進(jìn)行精確的納米級樣品掃描，提供基本的面外gao效正交運(yùn)動和高響應(yīng)能力。Park NX10的這種緊密剛硬的構(gòu)造具備低噪聲高速的伺服響應(yīng)能力。

 2. 高速Z軸掃描器，掃描范圍達(dá)15 μm

借助高強(qiáng)度壓電疊堆和撓性設(shè)計(jì)，標(biāo)準(zhǔn)Z軸掃描器的共振頻率高達(dá)9kHz(一般為10.5kHz）且探針的Z軸速率不低于48mm/秒。 Z軸zui大掃描范圍可從標(biāo)準(zhǔn)的15 μm擴(kuò)展至30 μm（可另選Z掃描頭）。

 3. 低噪聲XYZ位置傳感器

行業(yè)領(lǐng)先的低噪聲Z軸探測器代替Z電壓作為形貌信號。低噪聲XY閉環(huán)掃描可將正向掃描和反向掃描間隙降至掃描范圍的0.15%以下。

4. 驅(qū)動XY軸樣品臺

XY軸樣品臺是驅(qū)動化的，以便于將樣品導(dǎo)航并定位到掃描區(qū)域。這種驅(qū)動臺在這兩個(gè)軸上的分辨率同為0.6um（使用微步）

5. 自動步進(jìn)掃描

借助驅(qū)動樣品臺，步進(jìn)掃描可編程多區(qū)域成像，以下是它的工作流程：

1.   掃描成像

2.        抬起懸臂

3.        移動驅(qū)動平臺到設(shè)定位置

4.        進(jìn)針

5.        重復(fù)掃描 該自動化功能可大大減少掃描過程中手動需求，從而很大程度上提高生產(chǎn)力。

操作方便的樣品臺

6.        Park NX10的獨(dú)特頭部設(shè)計(jì)可使用戶從側(cè)面操作樣品和探針，用戶在樣品臺上可放置的zui大樣品體積為50mm× 50mm×20mm（長×寬×高）。

7.        高級掃描探針顯微鏡模式和選項(xiàng)的擴(kuò)展槽

只需將可選模塊插入擴(kuò)展槽便可激活高級掃描探針顯微鏡模式。得益于NX系列原子力顯微鏡的模塊設(shè)計(jì)，其生產(chǎn)線設(shè)備兼容性得到大大提高。

8.        結(jié)合了集成LED照明的同軸高倍顯微鏡

超長工作距離的定制物鏡（工作距離50mm, 數(shù)值孔徑0.21，分辨率1.0 μm ）帶來前所未有的鏡頭清晰度。直視同軸設(shè)計(jì)使得用戶可輕易在樣品表面尋找目標(biāo)區(qū)域。EL20x的長行程物鏡的大尺寸CCD可為您在高視角前提下提供0.7 μm的高分辨率。

9.        滑動嵌入SLD鏡頭的自主固定方式

您只需滑動嵌入燕尾導(dǎo)軌便可輕松更換原子力顯微鏡鏡頭。該設(shè)計(jì)可將鏡頭自動鎖定至預(yù)對準(zhǔn)的位置，同時(shí)與復(fù)位精度為幾微米的電路系統(tǒng)相連接。借助于相關(guān)性低的SLD，顯微鏡可精確成像并可準(zhǔn)確測定力-距離曲線。

10.    垂直調(diào)節(jié)驅(qū)動的Z平臺和聚焦平臺

驅(qū)動Z平臺和驅(qū)動聚焦平臺可使懸臂檢測樣品表面并為用戶持續(xù)提供清晰的圖像。用戶通過軟件界面進(jìn)行操控，由高精度步進(jìn)電機(jī)帶動，即使是透明樣品或液池應(yīng)用中都可簡單操作。

多種選擇Option

NX系列有適合大眾化的各種掃描模式，能滿足您的所有研究需求。

標(biāo)準(zhǔn)成像

- 真正的非接觸模式 AFM 

- 接觸模式AFM

- 側(cè)向力顯微鏡 （LFM)

- 相位成像

- 間歇式（輕敲式）AFM

電性能

- 導(dǎo)電AFM

- I-V譜線

- 掃描開爾文探針顯微鏡 （SKPM/KPM)

- 高電壓SKPM

- 掃描電容顯微鏡 （SCM)

- 掃描電阻顯微鏡 （SSRM)

- 掃描隧道顯微鏡 （STM)

- 掃描隧道光譜 （STS) 

- 時(shí)間分辨的光電流測繪 （Tr-PCM)

Magnetic Properties  磁性能

- 磁力顯微鏡 （MFM)

- 可調(diào)外加磁場MFM

化學(xué)性能

- 功能化探針的化學(xué)力顯微鏡

- 電化學(xué)顯微鏡(EC-STM和EC-AFM)

熱性能

- 掃描熱感顯微鏡(SThM)

光學(xué)性能

- 探針增強(qiáng)拉曼光譜 (TERS)

- 時(shí)間分辨的光電流測繪 （Tr-PCM)

介電/壓電性能

- 靜電力顯微鏡 （EFM)

- 動態(tài)接觸式靜電力顯微鏡（DC-EFM)

- 壓電力顯微鏡 （PFM)

- 高電壓PFM

機(jī)械性能

- 力調(diào)制顯微鏡 （FMM)

- 納米壓痕

- 納米刻蝕

- 高電壓納米刻蝕

- 納米操縱

- 壓電力顯微鏡 （PFM)

力測量

- 力－距離（F-D)光譜

- 力－體積成像

- 熱噪聲法標(biāo)定彈性系數(shù)

1.高樣品   1.5 μm臺階高度

掃描模式：非接觸模式，Z位置傳感器形貌圖

2.平樣品 藍(lán)寶石晶圓的原子臺階

0.3nm臺階高度，掃描模式：非接觸模式，Z位置傳感器形貌圖

3.硬樣品 鎢膜

掃描模式：非接觸模式，Z位置傳感器形貌圖

di一張圖，

掃描第15張圖之后

4. 軟樣品 膠原原纖維

掃描模式：非接觸模式，Z位置傳感器形貌圖

形貌圖，相圖

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技術(shù)參數(shù)：

掃描器

Z掃描器

柔性引導(dǎo)高推動力掃描器

掃描范圍：15μm(可選 30μm)

分辨率：0.015 nm

位置探測器噪聲：0.03 nm (帶寬: 1 kHz)

共振頻率：> 9 kHz （通常10.5 kHz ）AFM測頭

SICM測頭

壓電疊堆的撓性結(jié)構(gòu)

Z掃描范圍：25 μm

位置探測器噪聲：0.03 nm (帶寬: 1 kHz)

XY 掃描器

閉環(huán)控制的柔性引導(dǎo)XY掃描器

掃描范圍：50 μm × 50 μm (可選 10 μm × 10 μm or 100 μm × 100 μm)

分辨率：0.05 nm

位置探測器噪聲：< 0.25 nm (帶寬: 1 kHz)

離面運(yùn)動：< 2 nm (掃描超過40 μm)

驅(qū)動臺

樣品容量：zui大開放空間為100 mm x 100 mm，厚度最大值為20mm

樣品重量：最重500g

XY位移臺行程范圍：20 mm x 20 mm

Z位移臺行程范圍：25 mm

聚焦樣品臺行程范圍：15 mm

影像

樣品表面和懸臂的直觀同軸影像

視野：480 μm × 360 μm (10倍物鏡)        

CCD: 1 Mpixel (像素分辨率: 0.4 μm)        

5 Mpixel (像素分辨率: 0.2 μm)

物鏡

10倍 (0.21NA) 超長工作距離鏡頭(1μm分辨率)

20倍 (0.42NA) 高分辨率，長工作距離鏡頭(0.6μm分辨率)

電子

信號處理

ADC: 18 通道

ADC通道 (64 MSPS)

24-bit ADC 的 X, Y 和 Z 掃描器位置傳感器

DAC:11通道

DAC通道（64MSPS））

20-bit DAC的 X, Y 和 Z 掃描器定位

最大數(shù)據(jù)量：4096 x 4096像素

集成功能

3通道數(shù)字鎖相放大器

彈性系數(shù)校準(zhǔn)(熱方法)

數(shù)據(jù)Q 控制

連接外部信號

20個(gè)嵌入式輸入/輸出端口

5個(gè)TTL輸出： EOF, EOL, EOP, Modulation,and AC bias

選項(xiàng)/模式

標(biāo)準(zhǔn)成像

實(shí)際非接觸模式

接觸模式

側(cè)向摩擦力顯微術(shù) （LFM)

相位成像模式

輕敲模式

化學(xué)性能

功能化探針的化學(xué)力顯微鏡

電化學(xué)顯微鏡(EC-STM和EC-AFM)

介電／壓電性能

靜電力顯微鏡

動態(tài)接觸式靜電力顯微鏡(EFM-DC)

壓電力顯微鏡 (PFM)

高電壓PFM

力測量

力－距離（F-D)光譜

力譜成像

磁性能

磁力顯微鏡 （MFM)

可調(diào)MFM

熱性能

掃描熱顯微鏡(SThM)

電性能

Pinpoint 導(dǎo)電AFM (CP-AFM)

I-V譜線

掃描開爾文探針顯微鏡 (SKPM/KPM)

高電壓SKPM

QuickStep掃描電容顯微鏡(SCM)

掃描電阻顯微鏡(SSRM)

掃描隧道顯微鏡(STM)

掃描隧道光譜(STS)

光電流測繪(PCM)  

機(jī)械性能

Pinpoint模式

力調(diào)制顯微鏡(FMM)

納米壓痕

納米刻蝕

高電壓納米刻蝕

納米操縱

軟件

Park SmartScan?

AFM系統(tǒng)控制和數(shù)據(jù)采集的專用軟件

智能模式的快速設(shè)置和簡易成像

手動模式的高級使用和更精密的掃描控制

 XEI

 AFM數(shù)據(jù)分析軟件

 獨(dú)立設(shè)計(jì)——-可獨(dú)立安裝和分析數(shù)據(jù)

 能夠生成采集數(shù)據(jù)的3D繪制

 配件

 手套箱

  磁場發(fā)生器

  溫控隔音罩

售后服務(wù)：

Park在ZG北京，上海都設(shè)有辦事處，售后工程師共十位，可以全方面地滿足顧客所有需求，如有需要，請電郵或者電話聯(lián)系銷售。