PHI nanoTOF3 |PHI第七代飛行時間二次離子質譜儀
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TOF-SIMS(Time of Flight Secondary lon Mass Spectrometry)是由一次脈沖離子束轟擊樣品表面所產生的二次離子，經飛行時間分析器分析二次離子到達探測器的時間，從而得知樣品表面成份的分析技術。其表面靈敏度高，僅會提供表面幾個原子層的分子、元素及其同位素的組成信息。所有元素和同位素，包括氫都可以使用飛行時間二次離子質譜分析。
Z.新一代的PHI nanoTOF3具有全新的外觀設計，更小的占地面積和更低的能耗。并且配置新型鉍源LMIG團簇離子槍，具有更高的空間分辨率。
KEY TECHNOLOGIES
全新外觀，時尚設計，設備占地面積減少，更低功耗
獲得專.利的平行成像MS/MS質譜儀
獲得專.利的一鍵雙束中和技術
可靠的自動化和遠程操作
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