PHI CHINA在2020年3月19日至26日開辦的“PHI CHINA表面分析技術網(wǎng)絡講堂之飛行時間二次離子質(zhì)譜（TOF-SIMS）ZT”講座圓滿落下帷幕。

       本期TOF-SIMSZT網(wǎng)絡講堂進行了理論知識講解、并結合實際案例分享了實驗技術內(nèi)容。

       從3月19日起，分別由PHI CHINAZS應用專家魯?shù)馒P女士和主任工程師辛國強先生為大家系統(tǒng)、深入地講解了TOF-SIMS的基本原理、硬件及儀器功能的相關理論知識，同時邀請了ULVAC-PHI原廠應用科學家張薰勻博士為大家講解了TOF-SIMS在樣品制備、測試和分析的實驗技術內(nèi)容。參加課程的老師和同學們在直播平臺和微信交流群內(nèi)積極留言和反饋，講課老師在每一節(jié)課程的Z后進行了現(xiàn)場答疑。

       PHI CHINA始終秉持為廣大客戶提供Zyou質(zhì)服務的初心！在這特殊的抗疫時期，PHI CHINA通過創(chuàng)新的學習方式，為大家?guī)矶鄨鲋R和技術分享交流的盛宴，從2月11日開課到3月26日結課，共舉辦了XPS、AES和TOF-SIMS三個ZT講座，總計18節(jié)課程。至此，PHI CHINA表面分析技術網(wǎng)絡講堂系列課程就告一段落了！

       在此，感謝廣大客戶以及來自百余所高校和科研院所的千余名師生積極的支持以及給予我們的鼓勵。春已暖，花已開，PHI CHINA將會繼續(xù)努力，為大家?guī)砀泳实募夹g交流活動，請持續(xù)關注我們！