PHI CHINA表面分析技術網絡講座已經成功開辦了三期，感謝廣大客戶及師生一直以來的關注及支持。為了將更多更好的技術分享給大家，本周將開展“飛行時間二次離子質譜（TOF-SIMS）”ZT講座。

       飛行時間二次離子質譜儀（Time of Flight-Secondary Ion Mass Spectrometer 簡稱ToF-SIMS），使用初級脈沖離子入射固體材料表面，通過探測表面激發出的二次離子的飛行時間分辨其質量，以表征材料表面的元素成分、分子結構、分子鍵接等信息。

01 3月19日15:00

PHI CHINAZS應用專家魯德鳳

TOF-SIMS基本原理、主要功能和應用

1、SIMS的基本原理（包括D-SIMS和TOF-SIMS）；

2、TOF-SIMS的主要功能；

3、TOF-SIMS在材料分析中的主要應用。

02 3月20日15:00

PHI CHINA主任工程師辛國強

TOF-SIMS硬件簡介、儀器功能及特性

1、TOF-SIMS儀器結構及其功能；

2、TRFIT能量分析器原理；

3、LMIG離子槍原理；

4、深度剖析離子槍；

5、PHI NanoTOF II特性。

03 時間待定

ULVAC-PHI原廠應用科學家張熏勻

TOF-SIMS的樣品制備、測試和分析過程演示以及數據分析

1、不同樣品不同測試需求的樣品制備；

2、樣品測試和分析過程的演示；

3、如何使用軟件進行數據分析（圖譜解析、MAPPING、深度剖析曲線&3D成像等）。

       本次為期三天的講座將以網絡直播結合現場答疑的方式進行，由PHI CHINAZS專家及ULVAC-PHI原廠應用科學家共同為您解析TOF-SIMS系列別樣的精彩。疫情尚未結束，學習不能止步。歡迎掃描下方公眾號二維碼，回復網絡講堂進行報名。請繼續關注我們，更多的干貨和技術分享，敬請期待。