測量發光材料的P偏振熒光的角度依賴分布，從而計算來自垂直或者水平躍遷偶極矩的發光比例，獲得發光分子取向的信息。

電致發光量子效率測量系統,全面的絕對法測量的電致發光效率參數以及相關的電學,輻射度學,光度學,色度學等參數,典型的包括電致發光效率EQE,壽命測試,CIE,CRI,CCT,光譜功率分布,IV,JV,光...

電致發光測量儀NovaLum包括IVL測試、器件壽命測試、空間角度分布測試等功能，適用于電致發光樣品電致發光效率（電流效率、功率效率、外量子效率等）、光度學、色度學、穩定性、發光角度分布等相關性能參數...

利用該系統組件的分布特性，可以靈活搭建適用于不同類型器件的測量系統。該系統可以便捷地擴展測量通道數量，且可以為不同的測試通道配備相同或者差異的測試功能，從而可以適應豐富的測量場景，如批量測量、手套箱測...