產品關鍵詞：電致發光、IVL、電致發光量子效率、量子效率、亮度、前向亮度、角度分辨、器件壽命、外量子效率、發光量子產率測量系統、EQE、JV、IV、發光量子產率測量系統、自動對焦、朗伯假設、相對法、光分布法、光譜功率分布（ λ）、輻射通量、光通量、相關色溫（CCT）、顯色指數（CRI）、電功率密度

產品簡介

電致發光測量系統NovaLum是東譜科技HiOE穩態綜合光電特性測量平臺中的重要成員，用于對電致發光樣品的性能進行精確測量。該系統包括IVL測試、器件壽命測試、空間角度分布測試等功能，可以便捷、快速地得到電致發光器件全面的性能參數，如電致發光效率（電流效率、功率效率、外量子效率等）、光度學、色度學、穩定性、發光角度分布等相關性能參數。該設備很好地解決了行業上：（1）利用分光輻射度計測試時，存在低亮度測試速度慢、高亮度過曝的問題，從而不能用于易老化器件的測試，也不適宜用于寬亮度范圍的器件測試；（2）利用積分球系統測試時，無法得到準確的前向亮度參數，且高亮度時也存在過曝問題，不能對強發光樣品進行測試等的問題。

產品特點

□ 可以得到準確的亮度，因而適宜OLED、鈣鈦礦LED、量子點LED、顯示屏等面光源的測量。

□ 配備自動化的角度分辨測試功能，可以快速得到樣品發光的空間分布特性。

□ 配備了穩定性測試功能，進行老化測試，具有寬的亮度檢測范圍（<1cd/m^2 ~999900 cd/m^2 ）。

□ 可以進行各種環境的測試，如氣體氛圍、器件不封裝轉移測試等，同時可以實現手套箱內快速換樣測試。

□ 配備自動對焦和觀察、自動位移、自動子器件切換等系統，可以極大地提升測試效率。

產品功能

□ 多種掃描模式：電壓掃描、電流掃描、角度掃描、時間掃描。 

□ 分段循環電流、電壓掃描：可以研究器件的遲滯效應等。

□ 實時測量：可以實時單點測量，靈活判斷器件的工作情況。 

□ 兩線/四線測量：四線測量可更加準確地測量器件的電流電壓。 

□ 自動切換器件：通過軟件選擇測量的子器件。

□ 自動積分時間：避免因為亮度過低導致測不出信號、或亮度過高導致的過曝的問題。

□ 配備可視化實時觀察及位移系統：在軟件中可以實時觀察到器件的表面發光情況，可軟件操作對焦。

□ 自動保存數據：測量過程中自動保存數據，避免數據丟失等狀況。

規格參數

產品應用

□ 量子點發光二極管（QLED）

□ 有機發光二極管（OLED）

□ 發光二極管（LED）

□ 鈣鈦礦發光二極管（PeLED）

□ 其它各種類型的電致發光器件

測試樣例

LED器件測試示例

顯示屏測試示例