LDICO ED-1三維微晶電子衍射儀專門用于微小晶體樣本（<1000nm）的測試，通過對衍射圖譜進行分析，完成結構解析。

日本ADVANCE RIKO公司專業從事“熱”相關技術和設備的研究開發超過60年，現推出全新的商用系統：熱電制冷器件評估裝置（Peltier Evaluation System），可以準確測量COP

新一代多通道高精度低噪聲綜合電學測量儀 M81-SSM 系統為先進測量應用提供了一種簡單而直接的方法。M81-SSM消除了多種特定功能儀器安裝的復雜性，將直流和交流源的便利性與測量相結合，包括了鎖相的...

德國REACNOSTICS公司推出的新型多功能催化反應器，可實現測量和/或模擬反應器內的濃度、溫度和流場，可視化呈現出物質在反應器不同位置的實時狀態，并通過原位即時空間分辨光譜（Operando Sp...

s-Laue是日本Pulstec公司近期發布的一款基于圓形全二維面探測器技術的新一代X射線單晶定向系統。該設備配備六軸樣品臺，具有功率小（30KV/1.5mA,因此輻射小）、操作簡單、測試效率高（典型...

韓國納米技術公司（Nano Technology Co.,Ltd.，簡稱NTi）是一家致力于納米材料制備的高科技企業，其生產的金屬納米膠體/納米顆粒制備儀，采用PWE（脈沖金屬絲蒸發）ZL技術，將金屬...

聚合物薄膜厚度方向熱電性能評價系統-ZEM-d主要測量聚合物薄膜厚度方向上的塞貝克系數和電阻率，可以測量的樣品薄為10μm。

日本Advance Riko公司推出的納米薄膜熱導率測試系統-TCN-2ω是使用2ω方法測量納米薄膜厚度方向熱導率的商用系統。與其他方法相比，樣品制備和測量極為簡單。

ONYX是其在全球范圍內推出的**款針對石墨烯、半導體薄膜和其他二維材料大面積太赫茲無損表征的測量設備。

激光閃光法熱常數測量系統（型號：TC-1200RH）使用紅外金面爐替代傳統電阻爐加熱，大大縮短測量時間。可應用于熱電材料的研究與開發，及其他材料的熱物理性能評價。

attocube公司生產的attoFPSenor系列位移激光干涉器充分滿足了高分辨位移與定位的工業和科研需要，其緊湊的設計和穩定性可以在極端環境中使用，在極大的位移測量范圍內，達到25pm的位移分辨率...

IRsweep公司推出的IRis-F1時間分辨快速雙光梳紅外光譜儀是一種基于量子級聯激光器頻率梳的紅外光譜儀，突破了傳統光譜儀需要幾秒鐘或者更長的測量時間來獲取一個完整的光譜的限制，能實現高達1 μs...

1、熱電模塊的輸出特性可以在大氣環境下，高溫持續加載來評估； 2、重復測量Pmax是可能的，在持續的時間間隔內，持續地應用負載； 3、可以在與實際的熱電模塊使用環境相一致的恒定常量負載下執行測量...

? 可以實現通過自動測量熱流量和發電量來獲得熱電轉換效率； ? 可以實現對小型材料塊體2-10mm*1-20mmH測量；