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QUANTUM量子科學儀器貿易（北京）有限公司
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儀企號
Quantum Design中國子公司
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掃描電鏡專用原位AFM探測系統價格：面議- 品牌：奧地利GETec
- 型號：AFSEM
- 產地：歐洲 奧地利
* 掃描電子顯微鏡中進行AFM原位分析 * 使用SCL的自感懸臂技術的納米探針 * 無需激光和探測器，適用于任何樣品表面 * 與大多數SEM兼容而不妨礙正常的操作 * AFM和...
奧地利GETec
GETec成立于2011年，前身為GETec KG，并于2015年10月正式移交給GETec Microscopy GmbH，是一家專注于研發、生產、銷售于一體的企業。產品主要有原子力顯微鏡、納米分析工具、掃描頭、工具包、特定適配器和饋通凸緣、控制器、高壓放大器、軟件等，產品廣泛應用于材料、生物學、物性測試等領域。
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