
- 2025-01-21 09:33:16顯微熒光光譜
- 顯微熒光光譜是一種將顯微技術與熒光光譜分析相結合的分析方法。它利用顯微鏡對樣品進行微區觀察,同時借助熒光光譜儀檢測樣品在特定激發光下的熒光發射光譜。該方法具有高靈敏度、高分辨率及非破壞性等特點,能夠實現對樣品微區的化學成分、結構信息及分布狀態的快速分析。顯微熒光光譜廣泛應用于地質、材料科學、生物醫學等領域,為科研及工業生產提供了強有力的分析手段。
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顯微熒光光譜資訊
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- 本次網絡研討會將使用愛丁堡儀器市場領先的產品,講解顯微熒光光譜及共聚焦顯微拉曼光譜的實踐和理論知識。
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顯微熒光光譜問答
- 2025-04-23 14:15:19電子探針顯微分析方法有哪些?
- 電子探針顯微分析方法 電子探針顯微分析方法(Electron Probe Microanalysis, EPMA)是一種利用電子束與樣品相互作用原理來進行元素分析和成分分析的技術。該技術廣泛應用于材料科學、地質學、冶金學等領域,是研究微觀結構、元素分布以及樣品成分的關鍵工具。通過高精度的分析,電子探針顯微分析方法能夠提供極為詳盡的樣品元素信息,并為科學研究和工業應用提供可靠的數據支持。本文將介紹電子探針顯微分析的基本原理、應用領域及其優勢。 電子探針顯微分析的基本原理 電子探針顯微分析方法基于電子束與樣品相互作用后產生的各種信號,如特征X射線、二次電子和背散射電子等。通過測量這些信號,能夠獲得樣品的元素組成和空間分布信息。具體來說,電子探針顯微分析通過聚焦電子束在樣品表面激發特征X射線,這些X射線的能量與元素的原子結構相對應,因此可以通過對X射線進行能量分析來確定樣品中各元素的種類和含量。 在實際操作中,電子束的能量通常設置在10-30kV之間,能夠深入樣品的表面層并激發X射線。這些X射線的強度與樣品中相應元素的濃度成正比,通過對X射線譜圖的定量分析,研究人員可以精確地測定元素的分布和含量。 電子探針顯微分析的應用領域 材料科學 電子探針顯微分析技術在材料科學中有著廣泛應用。尤其是在金屬合金、陶瓷、復合材料等的成分分析中,EPMA能夠提供高空間分辨率和定量分析能力。通過對材料微觀結構的研究,科學家們可以了解材料的性能、相變以及在不同條件下的行為,從而優化材料的設計和性能。 地質學 在地質學研究中,電子探針顯微分析方法被廣泛應用于礦物學和巖石學研究。通過分析礦物和巖石樣品的元素組成,EPMA能夠幫助地質學家解讀地質過程、巖漿活動、礦產資源的成因以及沉積環境等信息,為資源勘探和環境保護提供有力支持。 生命科學 在生物醫學領域,電子探針顯微分析也有著重要的應用。通過對細胞和組織樣本進行元素分析,研究人員可以探索生物體內微量元素的分布,幫助揭示生物體的代謝過程和疾病機制。例如,通過EPMA分析癌細胞與正常細胞中的元素差異,有助于癌癥早期診斷和策略的優化。 電子探針顯微分析的優勢 與傳統的分析方法相比,電子探針顯微分析在空間分辨率和分析精度方面具有明顯優勢。EPMA具有極高的空間分辨率,能夠對微米甚至納米尺度的樣品進行高精度分析,適用于復雜的微觀結構研究。EPMA具備較強的元素分析能力,能夠對多種元素進行定性和定量分析,尤其適合于分析復雜樣品中的微量元素。EPMA分析無需對樣品進行復雜的化學預處理,能夠直接在固體樣品表面進行分析,具有較高的分析效率。 總結 電子探針顯微分析方法是一項高精度的材料分析技術,憑借其的空間分辨率和元素分析能力,在多個領域發揮著重要作用。從材料科學到生命科學,EPMA技術為研究者提供了深入理解樣品成分和微觀結構的強大工具。隨著技術的不斷進步,電子探針顯微分析在科研和工業中的應用前景將更加廣闊,并為推動科技創新和產業發展作出更大的貢獻。
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- 2022-09-26 14:33:37熒光顯微系統的新高度——Luminosa單光子計數共聚焦顯微
- 過去的幾十年中,德國PicoQuant的研發人員一直致力于制造最具定量性和重復性的時間分辨熒光顯微鏡系統。現在他們終于邁出了這一步,完成了一套更易于使用、且不影響靈敏度的系統。該系統打破常規,無需培訓物理學支持人員便可輕松使用。全新的Luminosa可以讓每個分子生物物理學或結構生物學研究人員輕松地將單分子和時間分辨熒光顯微鏡的方法添加到他們的“工具箱”中。Luminosa系統的主要功能包括一鍵式自動對準程序和基于上下文的直觀工作流程。例如,系統可以自動識別單個分子,或者它可以自動確定單個分子FRET (smFRET) 的校正因子。對于經驗豐富的專家,它仍具有先進的靈活性。所有光機組件均可訪問,數據以開放格式存儲,工作流程和圖形用戶界面均可定制。用戶可以完全訪問實驗參數,例如可調節的觀察量。全新的Luminosa本身就是一套時間分辨熒光顯微的多功能“工具箱”。它用于單分子水平的動態結構生物學研究。這些方法包括熒光壽命成像 (FLIM)、用于快速過程的rapidFLIMHiRes、FLIM-FRET、單分子FRET(突發和時間跟蹤分析)、熒光相關光譜 (FCS)、各向異性成像和微分干涉對比 (DIC) 成像。隨著時間分辨熒光顯微技術的用戶群體不斷擴大,對高重復性、高準確性和寶貴實踐經驗規則的需求變得尤為明顯。Luminosa已經包含了科學家集體努力制定的經驗指南,例如來自于單分子FRET群體在基準研究中的經驗指南。Luminosa 是一款將超高數據質量與超簡日常操作相結合的單光子計數共聚焦顯微鏡。它可以輕松集成到任何研究人員的“工具箱”中,成為開始探索使用時間分辨熒光方法科學家以及想要突破極限專家的省時、可靠的“伙伴”。它是一個真正的顯微鏡系統,每個人都可以依賴。產品特點:◆ 全軟件控制共聚焦系統,基于倒置顯微鏡◆ 激光波長從375到1064 nm可選◆ VarPSF:觀察量高精度調節,用于FCS和單分子FRET實驗◆ 電動平移臺,可在傳動和FLIM模式下進行“圖像拼接”◆ 掃描選項:FLIMbee振鏡掃描和壓電物鏡掃描◆ 最多可集成SPAD, PMT或Hybrid-PMT組成相互獨立的6通道探測單元◆
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- 2023-04-24 11:38:07熒光光譜與AI聯手之作:高階凈水解決方案 | 用戶訪談
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- 2023-07-25 10:40:14半導體和鈣鈦礦材料的高光譜(顯微)成像
- 目前在光伏業界,正在進行一項重大努力,以提高光伏和發光應用中所用半導體的效率并降低相關成本。這就需要探索和開發新的制造和合成方法,以獲得更均勻、缺陷更少的材料。無論是電致還是光致發光,都是實現這一目標的重要工具。通過發光可以深入了解薄膜內部發生的重組過程, 而無需通過對完整器件的多層電荷提取來解決復雜問題。HERA高光譜照相機是繪制半導體光譜成像的理想設備,因為它能夠快速、定量地繪制半導體發射光譜圖,且具有高空間分辨率和高光譜分辨率的特性。硅太陽能電池的電致發光光譜成像光伏設備中的缺陷會導致光伏產生的載流子發生重組,阻礙其提取并降低電池效率。電致發光光譜成像可以揭示這些有害缺陷的位置和性質。"反向"驅動太陽能電池(即施加電流)會產生電致發光,因為載流子在電極上被注入并在有源層中重新結合。在理想的電池中,所有載流子都會發生帶間重組,這在硅中會產生1100 nm附近的光(效率非常低)。然而,晶體結構中的缺陷會產生其他不利的重組途徑。雖然這些過程通常被稱為"非輻射"重組,但偶爾也會產生光子,其能量通常低于帶間發射。捕獲這些非常罕見的光子可以了解缺陷的能量和分布。在本實驗中,我們使用了HERA SWIR (900-1700 nm),它非常適合測量硅發光衰減。測量裝置如圖1所示:HERA安裝在三腳架上,在太陽能電池上方,連接到一個10A的電源。640×512像素的傳感器安裝在樣品上方75厘米處,空間分辨率約為250微米。圖1. 實驗裝置最重要的是,HERA光學系統沒有輸入狹縫,因此光通量非常高,是測量極微弱光發射的理想選擇。圖2.A和2.B顯示了兩個波長的電致發光(EL)圖像:1150 nm(帶間發射)和1600 nm(缺陷發射),這是4次掃描的平均值(總采集時間:5分鐘)。通過分析這些圖像,我們可以看到,盡管缺陷區域的亮度遠低于主發射區域,但它們仍被清晰地分辨出來。此外,具有強缺陷發射的區域的帶間發射相對較弱。我們可以注意到有幾個區域在兩個波長下都是很暗的;這可能是由于樣品在運輸過程中損壞了電池造成的。圖2.C中以對數標尺顯示了小方塊感興趣區域(圖2A和2B中所示)的光譜。圖 2.A 和 B:兩個選定波長(1150 nm 和 1600 nm)的電致發光(EL)圖像。C:A和B中三個不同區域對應的電致發光光譜(圖像中的彩色方框)。金屬鹵化物鈣鈦礦薄膜的光致發光顯微研究通過旋涂等技術含量低、成本效益高的方法,可以制造出非常高效的太陽能電池和LED。這些方法面臨的一個挑戰是在微觀長度的尺度上保持均勻的成分。光致發光顯微鏡是表征這種不均勻性的一個特別強大的工具。HERA高光譜相機可以連接到任何顯微鏡(正置或倒置)的c-mount相機端口,并直接開始采集高光譜數據,無需任何校準程序。圖3. 與尼康LV100直立顯微鏡連接的HERA VIS-NIR。在本實驗中,我們使用HERA VIS-NIR(400-1000 nm)耦合到尼康LV100直立顯微鏡(圖3)來表征兩種鹵化物前驅體合金的帶隙分布。將兩種鹵化物前驅體合金化的優點是能夠調整材料的帶隙;然而,這兩種成分經常會發生逆混合,從而導致性能損失。本實驗的目的是檢測這種逆混合現象:事實上,混合比的局部變化會改變局部帶隙,從而導致發射不同能量的光子。在這種配置中,激發光來自汞燈,通過帶通濾光片在350 nm處進行濾光,并通過發射路徑上的二向色鏡將其從相機中濾除。HERA的高通量使其能夠在大約1分鐘的測量時間內收集完整的數據立方體(130萬個光譜)。圖4.樣品的光譜綜合強度圖(A:全尺寸;B:放大)。圖4.A和4.B分別顯示了所有波長(400-1000 nm)總集成信號的全尺寸和放大圖像,揭示了長度尺度在1 μm左右的明亮特征。當我們比較亮區和暗區的光譜時(圖5.B中的黑色和紅色曲線),我們發現暗區實際上也有發射, 不僅強度較低,而且波長中心比亮區短。事實上,光譜具有雙峰形狀,很可能與逆混合前驅體的發射相對應。圖5.A的發射圖清楚地顯示了帶隙的這種變化。我們現在可以理解為什么低帶隙區域看起來更亮了--載流子可能從高帶隙區域弛豫到那里,并且在發生輻射重組之前無法返回。圖5.A:顯示平均發射波長的強度圖。B:亮區和暗區的發射光譜(正常化)。東隆科技作為NIREOS國內總代理公司,在技術、服務、價格上都具有優勢。如果您有任何產品相關的問題,歡迎隨時來電垂詢,我們將為您提供專業的技術支持與產品服務。
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- 2022-05-31 20:35:42不同顯微下觀察的糖
- 糖是我們生活當中不可或缺的部分,糖可以產能營養素,對于人體有著很大的作用,當糖進入到人體以后,一部在胰島素的作用下分解,來供應人體所需要的能量,另一部分也在胰島素的作用下合成糖原儲存起來,以備急用。下面我們用不同顯微鏡觀察糖類樣品。一、糖果的淀粉-偏光生物顯微鏡ML31-P搭配顯微鏡相機MD60生物偏光顯微鏡ML31-P+顯微鏡相機MD60拍攝糖果淀粉生物偏光顯微鏡(Polarizingmicroscope)是用于研究所謂透明與不透明各向異性材料的一種顯微鏡。凡具有雙折射的物質,在偏光顯微鏡下就能分辨的清楚,這些物質也可用染色法來進行觀察,但有些則不可能,而必須利用偏光顯微鏡。二、4種糖晶體樣品-體視顯微鏡MZ62搭配顯微鏡相機MD60和環形LED燈拍攝體視顯微鏡MZ62搭配顯微鏡相機MD60和環形LED燈拍攝4種糖晶體樣品明美MZ62體視顯微鏡,應用于常規生物醫學檢驗,科研研究和工業檢測等領域。它可以從不同角度觀察樣品,對無需加工制作樣品,可直接放入鏡頭下配合照明即可觀察。如果您對觀察糖類顯微鏡感興趣或有疑問,歡迎與我們聯系,期待與您相約!本文網址:http://www.mshot.com.cn/kehuanli/20220506.html,轉載請保留出處,謝謝!
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