配備固體進樣器的 Agilent Cary 7000 UMS 已成功用于薄膜基底的大樣品表征。自動進樣器以空間映射模式運行，適用于 ZTO 研究。通過采集透射光譜，將 ZTO 基底的帶隙能量映射在晶圓的整個直徑范圍上。數據顯示出一些差異，例如晶圓頂部由沉積過程造成了ZG的 Zn 濃度，因而頻率較低。

在尋找昂貴基底（如氧化銦錫 (ITO)）的合適替代品時，可以使用這一方法來表征光學帶隙能量相近的材料。

Cary 7000 UMS 和固體進樣器有望成為用于光學材料、涂層以及工業和實驗室各種應用中組分表征的重要工具。