產(chǎn)品介紹：

       自1998年以來，NT-MDT已成功地將AFM與光學顯微鏡和光譜技術相集成。支持包括HybriD ModeTM在內(nèi)的30多種基本和高級AFM模式，可提供有關樣品表面物理性質(zhì)的廣泛信息。 AFM與共焦拉曼/熒光顯微鏡的集成提供了有關樣品的更多信息。

完全相同的樣品區(qū)域同時測量的AFM和拉曼圖可提供有關樣品物理性質(zhì)（AFM）和化學成分（Raman）的補充信息。

NTEGRA Spectra II借助增強拉曼散射（TERS），可以進行納米級分辨率的光譜學/顯微術。特制的AFM探針（納米天線）可用于TERS，以增強和定位頂端附近納米級區(qū)域的光。

這種納米天線充當光的“納米源”，從而提供了光學成像的可能性，其分辨率小于衍射極限（max?10 nm）。掃描近場光學顯微鏡（SNOM）是獲得旋光性樣品的光學和光譜圖像的另一種方法，其分辨率受探針孔徑大小（?100 nm）限制。

所有可能的激發(fā)/檢測和TERS的解決方案

應用

CdS納米線通過導電聚合物納米線與金屬電極連接。 AFM探針借助觀察顯微鏡定位在結(jié)構(gòu)上。 由于AFM探針的形狀，激光可以直接定位在頂點上。

高分辨率AFM圖像可提供有關樣品形貌的信息。 從同一區(qū)域獲取的拉曼圖和發(fā)光圖顯示出納米線化學成分的差異。