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光學(xué)NanoGauge C10323-02
- 品牌：日本濱松
- 型號： C10323-02
- 產(chǎn)地：亞洲 日本
- 供應(yīng)商報(bào)價(jià)：面議
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濱松光子學(xué)商貿(mào)（中國）有限公司
更新時(shí)間：2025-02-24 10:56:46 -
銷售范圍售全國
入駐年限第10年
營業(yè)執(zhí)照已審核
- 同類產(chǎn)品膜厚測量系統(tǒng)(12件)
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產(chǎn)品特點(diǎn)
C10323型光學(xué)納米膜厚測量系統(tǒng)是一款微觀厚度測量系統(tǒng)。 在宏觀層面上無法測量具有不規(guī)則表面的物體，因?yàn)檫@些物體會產(chǎn)生高強(qiáng)度的散射光。 對于這些類型的物體，測量小面積可減少散射光，從而實(shí)現(xiàn)測量。
C10323-02的電源電壓為AC100 V至AC120 V。
詳細(xì)介紹
- 詳細(xì)參數(shù)
型號 C10323-02 可測膜厚范圍（玻璃） 20 nm to 50 μm① 測量可重復(fù)性（玻璃） 0.02 nm② 測量準(zhǔn)確性（玻璃） ±0.4 %③ 光源 Halogen light source 光斑尺寸 φ8 μm to φ80 μm④ 工作距離 Refer to objective lens list 可測層數(shù) Max. 10 layers 分析 FFT analysis, Fitting analysis, Optical constant analysis 外部控制功能 RS-232C, PIPE, Ethernet 電源 AC100 V to AC120 V , 50 Hz/60 Hz 功耗 Approx. 250 VA 測量波長范圍 400 nm to 1100 nm 接口 USB 2.0
*1：轉(zhuǎn)換時(shí)玻璃的折射率是1.5
*2：測量400 nm玻璃薄膜厚度時(shí)為標(biāo)準(zhǔn)偏差（公差）
*3：取決于光學(xué)系統(tǒng)或物鏡放大倍數(shù)
*4：測量保證范圍同VLSI標(biāo)準(zhǔn)測量保證文件一致產(chǎn)品特性● 可在微觀層面進(jìn)行測量
● 高速、高準(zhǔn)確度
● 分析光學(xué)常量(n, k)
● 可外部控制
外形尺寸（單位：mm）
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滬公網(wǎng)安備 31011502008050號