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塞貝克系數/電阻測量系統ZEM
- 品牌：日本Advance Riko
- 型號： ZEM-3
- 產地：亞洲 日本
- 供應商報價：面議
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QUANTUM量子科學儀器貿易（北京）有限公司
更新時間：2025-08-02 10:19:08 -
銷售范圍售全國
入駐年限第10年
營業執照已審核
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產品特點
- ? 擁有溫度精確控制的紅外金面加熱爐和控制溫差的微型加熱器；
? 測量是由計算機控制的，并且能夠在指定的溫度下執行測量，并允許自動測量消除背底電動勢； 詳細介紹
ZEM-3介紹：
塞貝克系數/電阻測量系統可實現對金屬或半導體材料的熱電性能的評估。作為ZEM的特點，塞貝克系數和電阻都可以用一種儀器來測量。ZEM-3特點：? 擁有溫度精確控制的紅外金面加熱爐和控制溫差的微型加熱器；? 測量是由計算機控制的，并且能夠在指定的溫度下執行測量，并允許自動測量消除背底電動勢；? 歐姆接觸自動檢測功能（V-I圖）；? 可以用適配器來測量薄膜；? 可定制高阻型。ZEM-3結構：
ZEM-3樣品腔：
ZEM-3工作原理：
ZEM-3應用方向：對于半導體，陶瓷材料，金屬材料等多種材料的熱電性能分析。ZEM-3可選功能：1. 薄膜測量選件
2.低溫選件（溫度范圍-100℃到200℃）3.高阻選件（ 高到10MΩ）ZEM-3參數配置：
型號 ZEM-3M8 ZEM-3M10 溫度范圍 50-800℃ 50-1000℃ 樣品大小 方形2-4mm*6-22mmL 或者 圓形φ2-4mm*6-22mmL 加熱方式 紅外加熱 氣氛 高純氦氣（99.999%） 樣品溫差 MAX.50℃ 測量方式 電腦全自動測量 附：
熱電材料/器件測試設備
測試數據
?燒結P型Si80Ge20塞貝克系數及電阻率測量結果
發表文章
1. Y. Wang et al. / Adv. Energy Mater. 2020, 2001945
2. Z. Ge et al. / Chemical Engineering Journal 2020, 126407
3. J. He et al. / Energy Environ. Sci., 2020,13, 2106-2114
4. Y. Takagiwa et al. / ACS Appl. Mater. Interfaces 2020, 12, 43, 48804–48810
5. L. Zhao et al. / Adv. Energy Mater. 2019, 9, 1901334.
用戶單位
清華大學
ZG科學技術大學
上海交通大學
復旦大學
南方科技大學
武漢理工大學
ZG科學院上海硅酸鹽研究所
ZG科學院大連化學物理研究所
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