全面的納米級(jí)表征

nanoIR3 具有全面的納米級(jí)表征能力。獨(dú)特的點(diǎn)波譜（POINTspectra）功能，單激光源可同時(shí)提供點(diǎn)波譜和化學(xué)成像，加快數(shù)據(jù)獲取，提升研究的成本效益。高波譜成像，能夠創(chuàng)建表面內(nèi)的 3D 波譜圖，幫助識(shí)別未知物，并導(dǎo)出另行處理。

Bruker 獨(dú)有的共振增強(qiáng) AFM-IR 模式 

可提供高性能、高質(zhì)量的多樣化光譜，幫助識(shí)別納米級(jí)材料，深入了解材料的變化和成分。共振增強(qiáng) AFM-IR 是靈敏度最高的有機(jī)材料納米級(jí)光譜分析技術(shù)

Tapping AFM-IR 化學(xué)成像

nanoIR3 融合了獨(dú)有技術(shù)，依托多年行業(yè)領(lǐng)先的 Anasys AFM-IR 儀器開(kāi)發(fā)經(jīng)驗(yàn)，是性能強(qiáng)的納米級(jí)紅外。專(zhuān)利 Tapping AFM-IR 成像技術(shù)可以實(shí)現(xiàn)高空間分辨率的化學(xué)成像，同時(shí)提供優(yōu)質(zhì)紅外光譜。無(wú)論用戶(hù)是想獲得聚合物、薄膜、單層還是微納米污染物的化學(xué)成分，都能使用現(xiàn)有的 Tapping AFM-IR 光譜、化學(xué)成像和材料性能成像系統(tǒng)快速又輕松地獲得高分辨圖像，該系統(tǒng)適用于材料和生命科學(xué)應(yīng)用