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掃描探針顯微系統(tǒng)Dimension Icon

品牌：德國布魯克
型號： Dimension Icon
產(chǎn)地：歐洲德國
供應商報價：￥3000000

瑞科和利（北京）科技有限公司更新時間：2025-07-24 15:55:30

銷售范圍售全國

入駐年限第3年

營業(yè)執(zhí)照已審核

同類產(chǎn)品布魯克儀器(10件)

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產(chǎn)品特點

技術參數(shù)：

X-Y方向掃描范圍：90um *90um典型值，Z小85um
Z方向掃描范圍：10um典型值，在成像及力曲線模式下；Z小9.5um
垂直方向噪音基底：<30pmRMS, 在合適的環(huán)境及典型的成像帶寬（達到625Hz）
X-Y定位噪音（閉環(huán)）：<0.15nm RMS，典型成像帶寬（達到625Hz）
X-Y定位噪音（閉環(huán)）：<0.10nm RMS，典型成像帶寬（達到625Hz）
Z傳感器噪音水平（閉環(huán)）：<35pm RMS, 典型成像帶寬（達到625Hz）
整體線性誤差（X-Y-Z）：0.5% 典型值

樣品尺寸/夾具：210mm真空吸盤樣品臺，直徑210mm, 厚度15mm
電動定位樣品臺（X-Y軸）：180mm*180mm可視區(qū)域；單向2um重復性；雙向3um重復性。
顯微鏡光學系統(tǒng)：五百萬像素數(shù)字照相機
180um至1465um可視范圍
數(shù)字縮放及自動對焦功能

控制器：NanoScope V型控制器
工作臺：整合所有控制器、結合人體工學設計，提供直接的物理或可視借口
震動隔絕：整體式氣動減震臺
聲音隔絕：可隔絕環(huán)境中85 dBC的持續(xù)噪音

詳細介紹

儀器簡介：

最新一代 Dimension系列 AFM

Dimension Icon 原子力顯微鏡(AFM）的性能、功能及附件等方面具有全新表現(xiàn)，在聚合物、半導體、能源、數(shù)據(jù)存儲及材料領域的納米研究中將會得到廣泛應用。Dimension Icon是Dimension系列產(chǎn)品中的新款設備,它基于世界上應用最廣泛的AFM平臺，集合了數(shù)十年的技術創(chuàng)新、行業(yè)內領先的應用定制及客戶反饋等于一身。這個系統(tǒng)經(jīng)過從上到下的設計，在易用性、高分辨率及快速成像等方面有突出表現(xiàn)。