配Apollo XLT硅漂移(SDD)探測(cè)器系列的TEAM^TM 能譜(EDS)分析系統(tǒng)為透射電鏡(TEM)應(yīng)用提供了的分析方案。該系列探測(cè)器包括超薄窗口(SUTW) Apollo XLT及無(wú)窗口Apollo XLTW兩種型號(hào)。
Apollo XLT SDD系列探測(cè)器融合了zuixin的SDD技術(shù)及EDAX下一代GX電子系統(tǒng)，提供了卓越的性能。系統(tǒng)的電子部件內(nèi)置于探測(cè)器，取消了單獨(dú)的電子盒，減小了系統(tǒng)占用空間，提高了靈活性和方便性。所有通訊均通過以太網(wǎng)，高速方便，并增強(qiáng)了故障排查能力。

主要特點(diǎn)

● 超薄窗口(SUTW)和無(wú)窗口兩個(gè)版本為用戶提供超群的輕元素性能。

● 信號(hào)處理卡內(nèi)置于探測(cè)器，方便遠(yuǎn)程訪問、安裝、維護(hù)和校準(zhǔn)。

● 直觀易用的TEAM軟件

● 無(wú)論用戶經(jīng)驗(yàn)如何，智能功能(Smart Features)可確保一致的數(shù)據(jù)采集、分析及報(bào)告

● 探測(cè)器完全自動(dòng)伸縮，確保操作安全

產(chǎn)品規(guī)格

● 優(yōu)化固體角的30mm2 SDD芯片技術(shù)

● SUTW和無(wú)窗口探測(cè)器，超群的輕元素性能，對(duì)C的典型分辨率優(yōu)于59eV

● MnKa分辨率優(yōu)于129ev，依據(jù)ISO15632:201標(biāo)準(zhǔn)

● 分辨率穩(wěn)定度<1eV，在計(jì)數(shù)率高達(dá)100kCPS條件下

● 峰偏移<1eV，在計(jì)數(shù)率高達(dá)250kcps下

● 可選的時(shí)間常數(shù)從120nS到7.68uS，以優(yōu)化數(shù)據(jù)采集

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