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- 冷冷不過人心50 2013-09-23 00:00:00
- 《光學顯微鏡的使用規程》 (一)實驗時要把顯微鏡放在座前桌面上稍偏左的位置,鏡座應距桌沿6~7cm左右。 (二)打開光源開關,調節光強到合適大小。 (三)轉動物鏡轉換器,使低倍鏡頭正對載物臺上的通光孔。先把鏡頭調節至距載物臺1~2cm左右處,然后用左眼注視目鏡內,接著調節聚光器的高度,把孔徑光闌調至Z大,使光線通過聚光器入射到鏡筒內,這時視野內呈明亮的狀態。 (四)將所要觀察的玻片放在載物臺上,使玻片中被觀察的部分位于通光孔的正ZY,然后用標本夾夾好載玻片。 (五)先用低倍鏡觀察(物鏡10X、目鏡10x)。觀察之前,先轉動粗動調焦手輪,使載物臺上升,物鏡逐漸接近玻片。需要注意,不能使物鏡觸及玻片,以防鏡頭將玻片壓碎。然后,左眼注視目鏡內,同時右眼不要閉合(要養成睜開雙眼用顯微鏡進行觀察的習慣,以便在觀察的同時能用右眼看著繪圖),并轉動粗動調焦手輪,使載物臺慢慢下降,不久即可看到玻片中材料的放大物像。 (六)如果在視野內看到的物像不符合實驗要求(物像偏離視野),可慢慢調節載物臺移動手柄。調節時應注意玻片移動的方向與視野中看到的物像移動的方向正好相反。如果物像不甚清晰,可以調節微動調焦手輪,直至物像清晰為止。 (七)如果進一步使用高倍物鏡觀察,應在轉換高倍物鏡之前,把物像中需要放大觀察的部分移至視野ZY(將低倍物鏡轉換成高倍物鏡觀察時,視野中的物像范圍縮小了很多)。一般具有正常功能的顯微鏡,低倍物鏡和高倍物鏡基本齊焦,在用低倍物鏡觀察清晰時,換高倍物鏡應可以見到物像,但物像不一定很清晰,可以轉動微動調焦手輪進行調節。 (八)在轉換高倍物鏡并且看清物像之后,可以根據需要調節孔徑光闌的大小或聚光器的高低,使光線符合要求(一般將低倍物鏡換成高倍物鏡觀察時,視野要稍變暗一些,所以需要調節光線強弱)。 (九)觀察完畢,應先將物鏡鏡頭從通光孔處移開,然后將孔徑光闌調至Z大,再將載物臺緩緩落下,并檢查零件有無損傷(特別要注意檢查物鏡是否沾水沾油,如沾了水或油要用鏡頭紙擦凈),檢查處理完畢后即可裝箱。 光學顯微鏡的維護 (一)必須熟練掌握并嚴格執行使用規程。 (二)取送顯微鏡時一定要一手握住彎臂,另一手托住底座。顯微鏡不能傾斜,以免目鏡從鏡筒上端滑出。取送顯微鏡時要輕拿輕放。 (三)觀察時,不能隨便移動顯微鏡的位置。 (四)凡是顯微鏡的光學部分,只能用特殊的擦鏡頭紙擦拭,不能亂用他物擦拭,更不能用手指觸摸透鏡,以免汗液玷污透鏡。 (五)保持顯微鏡的干燥、清潔,避免灰塵、水及化學試劑的玷污。 (六)轉換物鏡鏡頭時,不要搬動物鏡鏡頭,只能轉動轉換器。 (七)切勿隨意轉動調焦手輪。使用微動調焦旋鈕時,用力要輕,轉動要慢,轉不動時不要硬轉。 (八)不得任意拆卸顯微鏡上的零件,嚴禁隨意拆卸物鏡鏡頭,以免損傷轉換器螺口,或螺口松動后使低高倍物鏡轉換時不齊焦。 (九)使用高倍物鏡時,勿用粗動調焦手輪調節焦距,以免移動距離過大,損傷物鏡和玻片。 (十)用畢送還前,必須檢查物鏡鏡頭上是否沾有水或試劑,如有則要擦拭干凈,并且要把載物臺擦拭干凈,然后將顯微鏡放人箱內,并注意鎖箱。
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聲學掃描顯微鏡探頭怎么用
聲學掃描顯微鏡(AFM)作為一項先進的成像技術,廣泛應用于材料科學、生物醫學、半導體等領域。而其中,探頭的使用是實現精細成像的關鍵步驟之一。本文將詳細介紹聲學掃描顯微鏡探頭的使用方法,幫助科研人員更好地理解如何通過合適的操作,優化顯微鏡的性能,獲得高質量的樣品圖像與數據。
1. 聲學掃描顯微鏡探頭的基本構造
聲學掃描顯微鏡的探頭通常由一個極其敏感的微小探針、彈性支架和一個電子系統組成。其主要作用是利用超聲波或其他聲學信號與樣品表面相互作用,從而捕捉物質表面的微小變化。探頭的極為細小,可以觸及單個分子級別的細節,因此精確的操作至關重要。
2. 如何正確使用聲學掃描顯微鏡探頭
2.1 設置探頭
在使用聲學掃描顯微鏡之前,首先需要正確安裝探頭。根據不同的顯微鏡型號,探頭的安裝方式有所不同,通常需要根據廠商提供的操作手冊進行安裝。安裝時要確保探頭方向與樣品表面平行,并且探頭與樣品之間的距離要適中。探頭與樣品的接觸力通常較小,以避免損傷探針或樣品。
2.2 調整掃描參數
在安裝好探頭之后,需要根據樣品的特點調整合適的掃描參數。包括掃描速度、分辨率、探針的振幅等。掃描速度過快可能導致圖像模糊,過慢則可能增加數據采集時間,影響實驗效率。根據樣品的硬度和表面狀態,適當調整掃描的探頭力度,以保證得到高精度的成像結果。
2.3 進行樣品掃描
當探頭正確安裝并且掃描參數設置好之后,便可以開始對樣品進行掃描。在此過程中,操作人員需要保持穩定的工作環境,避免外界震動或溫度波動影響探頭的精度。探頭通過其振動與樣品的相互作用,將表面信息轉化為電信號并反饋到顯微鏡系統中,進而生成高分辨率的圖像。
2.4 數據分析與處理
掃描完成后,所獲得的數據可以通過專用軟件進行處理和分析。根據圖像的需要,可能需要對數據進行去噪、增強對比度等后處理操作,以提高圖像質量并進行進一步的科學分析。此時,操作人員要特別注意軟件中各類參數的設置,確保分析結果的準確性。
3. 聲學掃描顯微鏡探頭的常見問題與解決方法
在使用過程中,聲學掃描顯微鏡探頭可能會遇到一些問題,比如探頭損傷、圖像噪點過多等。常見的解決方法包括:
- 探頭損傷:探頭尖端容易受損,尤其是在操作過程中與樣品表面發生碰撞時。避免過度施加壓力或選擇硬度較高的樣品進行掃描,可以有效延長探頭的使用壽命。
- 圖像噪點問題:噪點過多可能是由于探頭不穩定或掃描參數設置不當導致的。可以通過調整掃描速度或使用更高質量的探頭來改善圖像質量。
4. 結語
聲學掃描顯微鏡探頭的正確使用對實驗結果至關重要。只有在安裝、參數調整和掃描操作中細心把控,才能確保獲得高分辨率的成像數據,進而推動科研工作的發展。掌握這些基本操作方法,將有助于在材料科學、生物醫學等多個領域實現精確的微觀探測,為科研創新提供有力支持。
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倒置熒光顯微鏡MF52-N應用于細胞培養
為管理細胞培養實驗室的日常工作,倒置顯微鏡必不可少。倒置熒光顯微鏡MF52-N應用于細胞培養,滿足明場觀察和熒光轉染觀察需要。細胞多為貼壁生長,倒置顯微鏡采用“物鏡位于樣品下方,聚光鏡位于樣品上方”的設計,這樣就能使物鏡盡量貼近細胞,并在上方保持較大的工作空間。
近期,北京區域安裝倒置熒光顯微鏡MF52-N搭配1250萬像素顯微鏡相機MSX2,以用于細胞培養。細胞培養一般需要用到如相差等反差觀察法,倒置熒光顯微鏡MF52-N采用無限遠光學設計和數顯LED熒光模塊,光路經過深度優化,能提供簡單易用的熒光激發和高質量的相襯、熒光和明場成像。
為實現重要的記錄和標準化目的,顯微鏡應配備數字攝像頭,能夠記錄和梳理拍攝的數據。此次搭配1250萬像素顯微鏡相機MSX2,色彩還原性好,成像清晰。
您若對倒置熒光顯微鏡MF52-N感興趣或存在疑問,歡迎與我們聯系,我們將竭誠為您服務!
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透射電子顯微鏡怎么調節:全面解析與操作步驟
透射電子顯微鏡(Transmission Electron Microscope,簡稱TEM)作為一種高分辨率的成像工具,廣泛應用于生物學、材料科學等領域,能夠觀察到細胞內部結構及微觀材料的原子級別細節。要發揮TEM的大效能,精確的調節操作至關重要。本文將深入探討透射電子顯微鏡的調節方法,幫助用戶掌握如何通過細致的操作,優化顯微鏡的性能,確保高質量的成像結果。
1. 調節透射電子顯微鏡的基本步驟
透射電子顯微鏡的調節過程主要包括對光學系統、電子束、樣品臺及成像系統的精細調節。需要確保顯微鏡的電源、真空系統及冷卻系統工作正常,以為顯微鏡的調節和成像提供穩定的基礎。之后,用戶需根據不同實驗需求進行以下調整。
1.1 光學系統的調節
光學系統的調節是透射電子顯微鏡使用過程中基礎的一步。通過調節電子槍和透鏡的焦距,確保電子束集中在樣品上,得到清晰的成像。在調節時,需要注意避免電子束的散射或聚焦失真,這對后續觀察質量影響甚大。
1.2 樣品準備與臺面調節
樣品的放置位置至關重要。首先需要確保樣品處于適當的高度和角度,通常通過樣品臺的微調旋鈕來實現。此時,用戶還應確保樣品表面盡可能平整,避免因表面不平而引起的成像模糊。
1.3 掃描電流與曝光時間的調整
掃描電流和曝光時間的調整有助于提高成像的清晰度和對比度。適當的曝光時間可以避免圖像過亮或過暗,從而獲得更精細的細節。而電流過大會導致樣品過熱,因此在調整電流時應謹慎,以保證樣品的完整性。
2. 細致調節技巧與常見問題
雖然透射電子顯微鏡的操作過程較為繁瑣,但掌握一些細致的調節技巧,可以有效提升成像質量。以下是常見的幾種調節技巧:
2.1 電子束的穩定性
保持電子束的穩定性對于獲得清晰圖像至關重要。用戶可以通過微調電子束的聚焦,確保電子束均勻分布到樣品上。定期校正電子槍,尤其是對于高分辨率成像任務,可以有效防止因電流不穩定造成的圖像失真。
2.2 灰度調節與對比度優化
灰度調節有助于提升圖像的對比度,特別是在觀察樣品的細節時尤為重要。通過細微調整灰度級別,您可以突顯樣品的微觀結構。而對比度的優化,尤其是在處理不同樣品材料時,可以幫助提高成像清晰度,使得微細結構更加顯著。
3. 高級調節操作與注意事項
對于高級用戶來說,透射電子顯微鏡的調節不僅僅局限于基本操作,更多的是對電子束性質、圖像處理算法等方面的調整。使用掃描透射電子顯微鏡(STEM)時,必須關注圖像的襯度調節與成像模式切換。此時,用戶需要深入理解不同模式下的優缺點,選擇適合當前樣本和實驗要求的設置。
4. 結語
透射電子顯微鏡的調節不僅依賴于理論知識的掌握,還需要實踐經驗的積累。通過合理的調整光學系統、樣品臺、掃描電流和曝光時間等多方面因素,用戶能夠有效提高成像質量,實現的微觀分析。作為一項高度精密的科學儀器,透射電子顯微鏡的操作細節和調節技巧在不同應用場景中各具挑戰,只有通過不斷實踐,才能達到佳的顯微成像效果。
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透射電子顯微鏡怎么聚焦:深入解析聚焦原理與操作技巧
透射電子顯微鏡(TEM)作為一種高分辨率的科學研究工具,廣泛應用于材料學、生命科學及納米技術等領域。其關鍵技術之一就是聚焦,決定了顯微鏡成像的清晰度與準確性。在本文中,我們將深入探討透射電子顯微鏡的聚焦原理、常見的聚焦方法及操作技巧,幫助用戶更好地掌握這一精密設備,提升顯微鏡的使用效果和圖像質量。
透射電子顯微鏡聚焦的原理
透射電子顯微鏡的工作原理依賴于電子束與樣品相互作用,進而產生放大圖像。聚焦的核心目標是通過電子透鏡系統將電子束精確地集中到樣品的特定區域,從而獲得清晰的圖像。顯微鏡中電子束的聚焦過程與光學顯微鏡有所不同,因為電子的波長比可見光波長短,能夠提供更高的分辨率。
透射電子顯微鏡的聚焦方法
- 粗聚焦與精細聚焦
在使用透射電子顯微鏡時,首先進行粗聚焦。這是通過調整顯微鏡中的粗調焦輪來實現的,通常用于將樣品大致放置在視野內。之后,通過精細調焦調整電子束,使圖像更加清晰,精確控制焦距,以獲取佳的圖像細節。
- 電子束調整
為了確保聚焦效果,操作人員需要根據樣品的厚度和類型適時調整電子束的強度和聚焦位置。過強的電子束可能導致樣品損傷或圖像失真,而過弱的電子束則可能影響圖像質量。
- 離焦與焦距調節
通過對透射電子顯微鏡的離焦控制,可以優化圖像的清晰度。離焦是指電子束未能準確聚焦到樣品表面,通常表現為圖像模糊。通過調節焦距并適當調整顯微鏡的透鏡系統,可以有效避免這一問題,確保成像清晰。
- 自動聚焦技術
許多現代透射電子顯微鏡配備了自動聚焦系統,該系統能夠自動檢測和調整焦距,以確保成像的穩定性。雖然自動聚焦系統提高了操作的便捷性,但仍需在復雜樣品或高分辨率成像時手動微調,以獲得理想的效果。
影響聚焦效果的因素
- 樣品的厚度與形態
樣品的厚度直接影響電子束的穿透深度,從而影響焦點的準確性。較厚的樣品需要較強的聚焦,而薄樣品則相對容易聚焦。樣品的形態和材質特性也會對聚焦效果產生影響,需要根據實際情況調整聚焦策略。
- 顯微鏡的光學系統
顯微鏡的光學系統,包括電子槍、透鏡以及其他組件,都會影響聚焦效果。老化的組件或損壞的鏡頭可能導致聚焦困難,影響圖像質量。因此,定期的顯微鏡維護和校準是確保其正常工作的關鍵。
- 操作技巧與經驗
透射電子顯微鏡的操作不僅僅是一個簡單的物理調整過程,操作人員的經驗和技巧同樣至關重要。熟練的操作員可以更好地掌握不同類型樣品的聚焦要求,避免因操作不當導致的圖像失真。
結語
透射電子顯微鏡的聚焦技術是顯微鏡成像的基礎,直接關系到圖像質量與分析結果的準確性。從粗聚焦到精細調焦,再到自動聚焦系統的應用,每個環節都需要操作人員細致入微的調整和操作。了解并掌握這些聚焦技巧,對于提升研究質量、減少誤差具有重要意義。對于任何進行透射電子顯微鏡研究的專業人員而言,熟練掌握這些操作無疑是科研成功的關鍵。
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