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德國布魯克 電子顯微鏡分析儀 QUANTAX ED-XS
- 品牌：德國布魯克
- 型號： QUANTAX ED-XS
- 產(chǎn)地：歐洲 德國
- 供應商報價：面議
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布魯克納米分析部
更新時間：2025-01-21 11:52:31 -
銷售范圍售全國
入駐年限第3年
營業(yè)執(zhí)照
- 同類產(chǎn)品EDS、WDS、EBSD、SEM Micro-XRF(4件)
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為您推薦
產(chǎn)品特點
- 簡單的儀器提供經(jīng)濟實惠的科學
可靠且經(jīng)濟實惠的 EBSD
適配臺式 SEM 詳細介紹
產(chǎn)品介紹：
全分析能力涵蓋超過 95% 的應用e-Flash XS 和 XFlash 630M 探測器完全集成在 ESPRIT 軟件套件下
低初始投資成本為緊湊型，低成本 SEM 設計的EBSDe-Flash XS EBSD 探測器可安裝在小倉室和價格實惠的 SEM 上，價格實惠合理
低擁有成本故障概率低，停機時間短e-Flash XS 使用高性能 CMOS 攝像機。相機可靠性高，e-Flash XS 探測器可在幾天內(nèi)更換為現(xiàn)場設備。簡單的設備提供經(jīng)濟實惠的科學
QUANTAX ED-XS 是一款新產(chǎn)品包，結(jié)合了全新獨特的 eFlash XS EBSD 探測器與多功能ESPRIT軟件套件下堅固耐用的 XFlash? EDS 探測器。這種硬件和軟件組合現(xiàn)在終于面向了顯微鏡圈子里更廣大的用戶，提供給用戶更為強大的分析工具。以下是其優(yōu)點：
初始投資成本低很多
停機時間非常低：在幾天內(nèi)更換現(xiàn)場探測器
經(jīng)濟實惠的服務合同選項
易于使用的 EBSD：無需校準并且用戶可自行更換磷屏
安全操作：不使用時，e-Flash XS 與SEM 倉室內(nèi)的其它儀器發(fā)生意外碰撞的可能性為0%
為什么我需要在臺式或鎢燈絲電鏡上使用 EBSD？
半自動晶粒尺寸和形狀分布
使用子集功能對微觀結(jié)構(gòu)定量分析
變形晶粒與再結(jié)晶晶粒的面積/體積分數(shù)
晶界分析
物相識別和分布分析
化學和晶體學結(jié)果的相關(guān)性
取向分布 + 晶體織構(gòu)分析
您的分析挑戰(zhàn)是什么？
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