KLA-Tencor成立于1975年，位于美國加利福尼亞州的米爾皮塔斯，致力于半導體（芯片）設備領域的探索。產品主要有芯片缺陷檢測儀、芯片量測儀、實時等離子蝕刻晶圓溫度測量系統、套刻量測系統、表面輪廓儀、納米機械測試儀、芯片封裝設備等，產品廣泛應用于半導體產品研發、設計、制造、檢測等領域。