XD-1000 

高性價比上照式光譜測厚儀，對各類鍍層厚度分析的同時可對電鍍液進行分析，適用于各種超大件、異形凹槽件、密集型多點測試或自動逐個檢測大量的小部件。

典 型 應 用

 XTU-50B 

下照式C型腔體設計，搭配微聚焦X射線發生器和高集成垂直光路系統，以及高敏變焦測距裝置對各種大小異形件都可快速、精準、無損測量。

 XTU-4C 

下照式微聚焦多準型，搭載先進的EFP算法軟件和微光聚集技術，配合切換準直器在檢測各微小及凹凸面樣品時檢出限更低，儀器壽命更長，性能更穩定。

典 型 應 用

 XAU 

全面升級下照式探測器款，多模態人機交互，搭載先進的EFP算法軟件同時升級成新一代微納米芯片及元器件，在檢測多層合金、上下元素重復鍍層及滲層時更加精準、穩定。

典 型 應 用

     XTD-200        XTD（大行程）

全新上照式設計，微聚焦，搭載可編程自動位移平臺，無人值守、自動檢測多樣品，且更加智能化，采用自主研發的AI影像識別功能可完成智能尋點，自動匹配測試。對各超大異形件及微小密集型多點的測試更加高效、智能。

典 型 應 用

 XU-100(ROHS) 

XU-100性價比多功能XRF是一款極具性價的RoHS(鹵素)檢測儀器，采用新一代X射線熒光光譜檢測技術和數字多道脈沖信號處理器，結合先進的EFP軟件，性能穩定可靠，實現更高的測試效率。對常規產品RoHS及部分產品的微區RoHS中的鉛、汞、鎘、鉻、溴、氯、砷、鋇、銻、硒等有害物質進行精檢精測。

 XAU-4C/XAU-4CS(專精型) 

匠心打造的新一代設計，是一款獨具科技感的一機多用型光譜儀，采用先進的EFP算法和微光聚集技術的同時搭配新一代的多道及時序排列，專精型既保留了專用測厚儀檢測微小樣品和凹槽的性能，又可滿足微RoHS檢測及全元素分析，每一個功能都是Z專業的。

典 型 應 用

     XAD-200          XAD（大行程）

全新上照式設計，保留原有四焦技術同時，搭載全自動大行程移動平臺和影像識別功能，既能檢測納米級厚度、微小樣品和凹槽異形件的膜厚，也可滿足微區RoHS檢測及全元素成分分析，無論是一個還是一批樣測試都能實現精準、快速、高效。

典 型 應 用

 XAVU 

配備智能抽真空系統，高性能的屏蔽性能去除大氣對低能元素的影響，對Na、Mg、Al、Si、P等輕元素鍍層厚度及成分測試精度更高.測量C-U元素，Li-U的涂鍍層。

 便捷型稀土檢測分析儀 

●先進的解譜技術

● 獨特的光路設計

● 排除元素相互干擾

可定制不同配置及車載，達到元素測量范圍C（6）-Am（95）

 XAD-μ 

●  小至10μm的測量直徑

●  高于普通光譜儀1000倍以上的聚焦光源

●  更低的檢出限

●  更高的測試精度

●  更好的測試穩定性

國內S創、全球領先的多導毛細管技術，輕松應對超小測量點或極薄涂層的測量分析，在柔性電路板、芯片封裝環節、晶圓微區的鍍層厚度和成分自動測試分析中盡顯優勢。

典 型 應 用

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