XD-1000 

高性價(jià)比上照式光譜測(cè)厚儀，對(duì)各類鍍層厚度分析的同時(shí)可對(duì)電鍍液進(jìn)行分析，適用于各種超大件、異形凹槽件、密集型多點(diǎn)測(cè)試或自動(dòng)逐個(gè)檢測(cè)大量的小部件。

典 型 應(yīng) 用

 XTU-50B 

下照式C型腔體設(shè)計(jì)，搭配微聚焦X射線發(fā)生器和高集成垂直光路系統(tǒng)，以及高敏變焦測(cè)距裝置對(duì)各種大小異形件都可快速、精準(zhǔn)、無損測(cè)量。

 XTU-4C 

下照式微聚焦多準(zhǔn)型，搭載先進(jìn)的EFP算法軟件和微光聚集技術(shù)，配合切換準(zhǔn)直器在檢測(cè)各微小及凹凸面樣品時(shí)檢出限更低，儀器壽命更長(zhǎng)，性能更穩(wěn)定。

典 型 應(yīng) 用

 XAU 

全面升級(jí)下照式探測(cè)器款，多模態(tài)人機(jī)交互，搭載先進(jìn)的EFP算法軟件同時(shí)升級(jí)成新一代微納米芯片及元器件，在檢測(cè)多層合金、上下元素重復(fù)鍍層及滲層時(shí)更加精準(zhǔn)、穩(wěn)定。

典 型 應(yīng) 用

     XTD-200        XTD（大行程）

全新上照式設(shè)計(jì)，微聚焦，搭載可編程自動(dòng)位移平臺(tái)，無人值守、自動(dòng)檢測(cè)多樣品，且更加智能化，采用自主研發(fā)的AI影像識(shí)別功能可完成智能尋點(diǎn)，自動(dòng)匹配測(cè)試。對(duì)各超大異形件及微小密集型多點(diǎn)的測(cè)試更加高效、智能。

典 型 應(yīng) 用

 XU-100(ROHS) 

XU-100性價(jià)比多功能XRF是一款極具性價(jià)的RoHS(鹵素)檢測(cè)儀器，采用新一代X射線熒光光譜檢測(cè)技術(shù)和數(shù)字多道脈沖信號(hào)處理器，結(jié)合先進(jìn)的EFP軟件，性能穩(wěn)定可靠，實(shí)現(xiàn)更高的測(cè)試效率。對(duì)常規(guī)產(chǎn)品RoHS及部分產(chǎn)品的微區(qū)RoHS中的鉛、汞、鎘、鉻、溴、氯、砷、鋇、銻、硒等有害物質(zhì)進(jìn)行精檢精測(cè)。

 XAU-4C/XAU-4CS(專精型) 

匠心打造的新一代設(shè)計(jì)，是一款獨(dú)具科技感的一機(jī)多用型光譜儀，采用先進(jìn)的EFP算法和微光聚集技術(shù)的同時(shí)搭配新一代的多道及時(shí)序排列，專精型既保留了專用測(cè)厚儀檢測(cè)微小樣品和凹槽的性能，又可滿足微RoHS檢測(cè)及全元素分析，每一個(gè)功能都是Z專業(yè)的。

典 型 應(yīng) 用

     XAD-200          XAD（大行程）

全新上照式設(shè)計(jì)，保留原有四焦技術(shù)同時(shí)，搭載全自動(dòng)大行程移動(dòng)平臺(tái)和影像識(shí)別功能，既能檢測(cè)納米級(jí)厚度、微小樣品和凹槽異形件的膜厚，也可滿足微區(qū)RoHS檢測(cè)及全元素成分分析，無論是一個(gè)還是一批樣測(cè)試都能實(shí)現(xiàn)精準(zhǔn)、快速、高效。

典 型 應(yīng) 用

 XAVU 

配備智能抽真空系統(tǒng)，高性能的屏蔽性能去除大氣對(duì)低能元素的影響，對(duì)Na、Mg、Al、Si、P等輕元素鍍層厚度及成分測(cè)試精度更高.測(cè)量C-U元素，Li-U的涂鍍層。

 便捷型稀土檢測(cè)分析儀 

●先進(jìn)的解譜技術(shù)

● 獨(dú)特的光路設(shè)計(jì)

● 排除元素相互干擾

可定制不同配置及車載，達(dá)到元素測(cè)量范圍C（6）-Am（95）

 XAD-μ 

●  小至10μm的測(cè)量直徑

●  高于普通光譜儀1000倍以上的聚焦光源

●  更低的檢出限

●  更高的測(cè)試精度

●  更好的測(cè)試穩(wěn)定性

國(guó)內(nèi)S創(chuàng)、全球領(lǐng)先的多導(dǎo)毛細(xì)管技術(shù)，輕松應(yīng)對(duì)超小測(cè)量點(diǎn)或極薄涂層的測(cè)量分析，在柔性電路板、芯片封裝環(huán)節(jié)、晶圓微區(qū)的鍍層厚度和成分自動(dòng)測(cè)試分析中盡顯優(yōu)勢(shì)。

典 型 應(yīng) 用

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