-
銀牌會員 第 7 年
岱美儀器技術服務（上海）有限公司
認證：工商信息已核實
- 產品分類
- 品牌分類
- EVG光刻機
- EVG鍵合機
- CMP晶圓減薄拋光
- 晶圓關鍵尺寸測量
- EVG納米壓印機
- 膜厚儀
- 防震臺
- 晶圓厚度測量
- 應力測量
- 3D形貌儀/白光干涉輪廓儀
- 光學鏡頭對準系統（定心儀）
- 片電阻測量儀
- 晶圓缺陷檢測
- 等離子去膠
- 橢偏儀
- 臺階儀
- 4D動態激光干涉儀
- 光學粗糙度測試儀
- 電容式位移傳感器
- 磁性材料檢測設備
- 全自動測量機臺
- （ 日本）日本小坂
- （ 美國）美國Film Sense
- （ 珠海）寶豐堂
- （ 浦東新區）其它品牌
- （ 日本）列真株式會社
- （ 美國）美國德康
- （ 德國）德國Stefan Mayer
- （ 德國）Opto Alignment
- （ 希臘）希臘ThetaMetrisis
- （ 鎮江）鎮江超納
- （ 美國）美國MicroSense
- （ 美國）美國Herzan
- （ 美國）美國FSM
- （ 美國）美國Filmetrics
- （ 奧地利）EVG
-
儀企號
岱美儀器技術服務（上海）有限公司
-
友情鏈接
-
- 品牌：列真株式會社
- 型號：LODAS? – AI50/100
- 產地：亞洲 日本
LODAS? – AI50/100是列真株式會社推出的一款Photomask Blanks缺陷檢查裝置。
-
- 品牌：列真株式會社
- 型號：LODAS? – BI8
- 產地：亞洲 日本
LODAS? – BI8是列真株式會社推出的一款Photomask Blanks缺陷檢查裝置。
-
- 品牌：列真株式會社
- 型號：LODAS? – BI12
- 產地：亞洲 日本
LODAS? – BI12是列真株式會社推出的一款GlassWafe缺陷檢查裝置。
-
LODAS? – LI價格：面議- 品牌：列真株式會社
- 型號：LODAS? – LI系列FPD Photomask缺陷檢查
- 產地：亞洲 日本
LODAS? – LI系列是列真株式會社推出的一款FPD Photomask缺陷檢查裝置。
-
CI8化合物半導體SiC、GaN晶圓檢查裝置價格：面議- 品牌：列真株式會社
- 型號：CI8
- 產地：亞洲 日本
LODAS? – CI8是列真株式會社推出的一款化合物半導體SiC、GaN晶圓檢查裝置。
滬公網安備 31011502008050號