◆ 全角度測量:發射端角度范圍0°至180° ,接收端角度范圍0°至360° ,可以實現反射、透射、散射、熒光和輻射的全角度光譜測量; ◆ 精確角度控制:高精度電機,角度精度及重復性能優異; ◆ ...

◆用戶可自定義測量位置; ◆無損檢測，支持成品全檢; ◆全自動快速測量,無需人工操作,支持濾光片均勻性分析; ◆單點測量速度小于0.2秒。

◆用戶可自定義樣品測量位置,定位準確; ◆無損檢測，支持成品全檢 ◆單點測量速度極快。

針對光學元件ZX厚度非接觸式測量設計，非接觸式光譜快速測量儀器。

◆大角度采集全穿透式測量; ◆ 可對多 孔進行快速測量; ◆數字視頻對焦,使微小區域實現JZ測量; ◆實時顯示測量樣品關注波長位置的透射率數據及半透波長檢測,自動調整顯示坐標范圍,可對批量樣品進...

滿足球面、非球面、塑料制品等器件散透射參數JZ測量; 測試速度極快, 1秒出結果,實現產品全檢; 可實現極小樣品的透過率檢測。

Planum-3000平面光學元件光譜分析儀可針對平面光學元件反射率、透射率、偏振光、膜性、顏色等進行多角度快速測量。適用于棱鏡、平行平板、平晶、濾光片、紅外截止片等眾多類型光學元件參數測量。

顯微測定微小領域的反射率 物鏡對焦于被測物微小區域（φ60μm） CIE顏色測定 X Y色度圖，x, y, L, a, b, 飽和度，主波長等 檢測速度快 高性能探測器，能在幾秒內實現重現...