日常使用的SEM，好用！ 該設(shè)備ZG分辨率1nm、ZD探針電流300nA（之前的15倍），可提供豐富的觀測和分析信息，用戶界面操作簡單、設(shè)計緊湊、配備大樣品室。

JSM-IT800的場發(fā)射掃描電鏡通用性強，可廣泛應(yīng)用于納米材料、金屬材料、半導(dǎo)體材料、化學(xué)化工、醫(yī)學(xué)及生物學(xué)領(lǐng)域，可GX觀察包括非導(dǎo)體樣品及強磁性樣品等。 JSM-IT800SHL分辨率可...

JPS-9030 光電子能譜儀 JPS-9030配有靜電透鏡和分析器等JEOL多年的成功技術(shù)，具有高靈敏度和高分辨率，設(shè)計緊湊。特別是低加速電壓和大束流離子槍使這款光電子能譜儀可以對不同厚度的薄...

JAMP-9510F這款場發(fā)射俄歇電鏡具有世界上zui高的空間分辨率：zui小束斑直徑3nm（二次電子圖像）和8nm（俄歇電子圖像）。使用多通道探頭的新的半球靜電能量分析器（HAS）優(yōu)化了俄歇分析，適...

JEM-ARM300F2是GRAND ARMTM的第二代產(chǎn)品，該設(shè)備在性能上有了進一步的提高，無論采用怎樣的加速電壓都能獲得超高空間分辨率圖像和高靈敏度的元素分析。

以節(jié)能環(huán)保、減排低碳為理念開發(fā)的JEM-F200場發(fā)射透射電子顯微鏡，不僅提高了空間分辨率和分析性能，還采用了新的操作系統(tǒng)可滿足多種使用途徑，易用性強，外觀設(shè)計精煉，能為不同層次的用戶提供新奇的操作體...

用于光學(xué)薄膜及電極膜等各種薄膜形成的電子束蒸鍍用電子槍/電源。

軟X射線分析譜儀(SXES :Soft X-Ray Emission Spectrometer)通過組合新開發(fā)的衍射光柵和高靈敏度Ｘ射線CCD相機，實現(xiàn)了極高的能量分辨率。 和EDS一樣可以并行檢測，...

XA-iHP200F在保持高局部微量元素分析性能的同時，追求每個人都能簡單快速地使用好儀器。該儀器能更加有效地進行觀察分析和操作，是更先進的一體化集成FE-EPMA。

XA-iHP100在保持高局部微量元素分析性能的同時，追求每個人都能簡單快速地使用好儀器。該儀器能更加有效地進行觀察分析和操作，是更先進的一體化EPMA。

JSM-7200F的電子光學(xué)系統(tǒng)應(yīng)用了日本電子旗艦機-JSM-7800F Prime采用的浸沒式肖特基電子槍技術(shù)，標配了TTLS系統(tǒng)（Through-The-Lens System），因此無論是在高/...

JCM-7000是以"誰都可以操作的SEM/EDS"為理念的臺式掃描電子顯微鏡， 標配Zeromag、Live analysis、 Live 3D功能。

JSM-F100集成了備受推崇的In-lens Schottky Plus Gun和電子光學(xué)控制系統(tǒng)Neo Engine，一個新開發(fā)的操作GUI“SEM Center”和一個創(chuàng)新的Live-AI fi...

JEM-ACE200F將JEM-ARM200F和JEM-F200的硬件技術(shù)整合在一起，實現(xiàn)了高度穩(wěn)定性和高分辨率，以精煉的外觀設(shè)計呈現(xiàn)。該設(shè)備做成了操作流程菜單，按照該菜單，操作人員即使不直接操作設(shè)備...

以電子束為熱源使用各種熔解用坩堝，對高融點活性金屬進行熔解/精煉、制備鑄錠的電子束熔煉爐。 適合研究開發(fā)及少量生產(chǎn)、省空間設(shè)計的小型熔煉爐。 可按照用途選擇坩堝種類、材料供給系統(tǒng)和電子槍輸出功率。