F20 白光干涉膜厚測量儀是一款高精度、多功能的測量設備，能夠快速測定薄膜厚度、光學常數、反射率和透過率等特性。F20膜厚儀可在數秒內提供準確的測量結果，為科研和工業生產提供可靠支持。

借助F54-XYT-300的光譜反射系統，可以快速輕松地測量200 x 200mm樣品的薄膜厚度電動XY工作臺自動移動到選定的測量點并提供快速的厚度測量，達到每秒兩點。您可以從數十種預定義的極性，矩形...

借助F54-XY-200光譜反射系統，可以輕松地測量尺寸達200 x 200mm樣品的薄膜厚度電動XY工作臺自動移動到選定的測量點并提供厚度測量，達到每秒兩點。您可以從數十種預定義的極性，矩形或線性測...

不論您是想要知道薄膜厚度、光學常熟，還是想要知道材料的反射率和透過率，F20都能滿足您的需要。僅需花費幾分鐘完成安裝，通過USB連接電腦，設備就可以在數秒內得到測量結果。

Filmetrics的精密光譜測量系統讓用戶簡單快速地測量薄膜的厚度和光學常數，通過對待測膜層的上下界面間反射光譜的分析，幾秒鐘內就可測量結果。

Filmetrics的精密光譜測量系統讓用戶簡單快速地測量薄膜的厚度和光學常數，通過對待測膜層的上下界面間反射光譜的分析，幾秒鐘內就可測量結果。當測量需要在待測樣品表面的某些微小限定區域進行，或者其他...

以真空鍍膜為設計目標，F10-RT 只要單擊鼠標即可獲得反射和透射光譜。 只需傳統價格的一小部分，用戶就能進行分析、確定 FWHM 并進行顏色分析。 可選的厚度和折射率模塊讓您能夠充分利用 Fi...

F10-HC現在能夠執行自動化基準矯正以及設置自己的積分時間這個方法不需要頻繁的執行基準矯正就可以讓使用者立即的執行樣本的測量 。

F3-sX家族利用光譜反射原理，可以測試眾多半導體及電解層的厚度，可測zuida厚度達3毫米。此類厚膜，相較于較薄膜層表面較粗糙且不均勻，F3-sX系列配置10微米的測試光斑直徑因而可以快速容易的測量...

F32先進的光譜分析系統采用半寬的3U rack-mount底盤，加上附加的分光計，可達到四個不同的位置（EXR和UVX版本兩個位置）。F32軟件可以通過數字I/O或主機軟件來控制啟動/停止/復位測量...

Profilm3D僅用10倍物鏡就提供了達到2mm的視場范圍，同時其zuida4倍光學變焦的功能緩解了不同應用時切換多個物鏡的需求。這些都進一步降低了采購成本。

依靠 F60光學膜厚測量儀的光譜測量系統，可以很簡單快速地獲得薄膜的厚度分布圖。采用 r-θ 極坐標移動平臺，可以非?？焖俚亩ㄎ凰铚y試的點并測試厚度，測試非?？焖?，大約每秒能測試兩點。用戶可以自己繪...

F10-AR 是為簡便而經濟有效地測試眼科減反涂層設計的儀器。 F10-AR 使線上操作人員經過幾分鐘的培訓，就可以進行厚度測量。

自動化薄膜厚度繪圖系統Filmetrics F50 系列的產品能以每秒測繪兩個點的速度快速的測繪薄膜厚度。一個電動R-Theta 平臺可接受標準和客制化夾盤，樣品直徑可達450毫米。(耐用的平臺在我們...

動化薄膜厚度分布圖案系統依靠F54光譜測量系統，可以很簡單快速地獲得直徑450毫米的樣品薄膜的厚度分布圖。采用r-θ極坐標移動平臺，可以非?？焖俚亩ㄎ凰铚y試的點并測試厚度，測試非常快速，大約每秒能測...