實(shí)驗(yàn)分享|基于sCMOS相機(jī)科學(xué)成像技術(shù)的耐高溫航空涂層材料損傷檢測(cè)實(shí)驗(yàn)
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實(shí)驗(yàn)背景
航空發(fā)動(dòng)機(jī)外殼的耐高溫涂層材料在長(zhǎng)期高溫、高壓工況下易產(chǎn)生微小損傷與裂紋,可能導(dǎo)致嚴(yán)重安全隱患。傳統(tǒng)光學(xué)檢測(cè)手段受限于分辨率與靈敏度,難以捕捉微米級(jí)缺陷,且檢測(cè)效率低下。
某高校航空材料實(shí)驗(yàn)室,采用科學(xué)相機(jī)對(duì)陶瓷涂層損傷進(jìn)行科學(xué)成像實(shí)驗(yàn)。
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實(shí)驗(yàn)?zāi)繕?biāo)
驗(yàn)證sCMOS相機(jī)在檢測(cè)經(jīng)高溫處理后的陶瓷涂層材料表面微損傷如裂紋的有效性和工程實(shí)用性。
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實(shí)驗(yàn)準(zhǔn)備
核心設(shè)備,千眼狼Revealer Gloria 4.2 科學(xué)相機(jī),2048×2048,6.5μm×6.5μm,1.2e-低讀出噪聲。
光學(xué)平臺(tái),50mm C口工業(yè)鏡頭,Revealer科學(xué)成像軟件。
樣本為經(jīng)高溫處理的陶瓷涂層材料試片,表面引入或自然形成損傷區(qū)域。
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實(shí)驗(yàn)步驟
1)樣本預(yù)處理,清潔陶瓷表面,標(biāo)記損傷區(qū)域。
2)架設(shè)Gloria 4.2科學(xué)相機(jī),垂直對(duì)準(zhǔn)樣本表面。
3)打開(kāi)科學(xué)成像分析軟件RPC,設(shè)置sCMOS相機(jī)采集分辨率(2048×2048),Binning模式(1×1),曝光時(shí)間(50ms),采樣模式(CMS)。
4)通過(guò)實(shí)時(shí)預(yù)覽功能調(diào)整sCMOS相機(jī)的焦距和光圈,使樣品表面細(xì)節(jié)清晰成像。
5)工具欄啟用偽彩功能,此功能可將圖像中微小的灰度差異化轉(zhuǎn)化為顯著的顏色差異,增強(qiáng)人眼對(duì)低對(duì)比度損傷特征如微裂紋、應(yīng)力痕、微小剝落區(qū)的辨識(shí)度。
6)連續(xù)采集多組圖像,記錄原始灰度圖和偽彩處理圖前后對(duì)比。另科學(xué)成像軟件RPC支持定量化分析,基于灰度閾值分割算法,統(tǒng)計(jì)損傷面積;支持繪制損傷區(qū)域與完好區(qū)域的灰度值分布直方圖,量化損傷與背景的對(duì)比度差異;同時(shí)也支持利用圖像測(cè)量工具,測(cè)量微裂紋的長(zhǎng)度、寬度等幾何參數(shù),精度可達(dá)微米級(jí)。
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實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)
第一組樣本,經(jīng)偽彩處理的陶瓷涂層表面圖像,清晰可見(jiàn)多條微米級(jí)裂紋,及一處微小剝落區(qū)域,顏色明顯區(qū)別于背景,如下圖。sCMOS相機(jī)捕捉到傳統(tǒng)方法易漏檢的細(xì)長(zhǎng)微裂紋和淺表微小剝落坑。
第一組樣本
第二組樣本高分辨率灰度圖(左)與偽彩處理圖(右)對(duì)比,偽彩圖顯著提升了低對(duì)比度應(yīng)力集中區(qū)域的可見(jiàn)性,預(yù)示潛在損傷風(fēng)險(xiǎn)點(diǎn)。通過(guò)灰度值分析,可定量區(qū)分潛在損傷區(qū)域與正常區(qū)域的差異,如下圖,sCMOS相機(jī)偽彩處理功能有助于揭示早期損傷跡象,實(shí)現(xiàn)預(yù)測(cè)性維護(hù)。
第二組樣本
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實(shí)驗(yàn)結(jié)論
本次基于科學(xué)成像技術(shù)的耐高溫航空涂層材料損傷實(shí)驗(yàn),展示了Gloria 4.2科學(xué)相機(jī)在材料損傷檢測(cè)領(lǐng)域的工程適用性,其高靈敏度與偽彩處理、圖像分析能力提升了損傷可視化、定量化檢測(cè)水平,驗(yàn)證了sCMOS相機(jī)在航空材料損傷檢測(cè)中的高效與可靠。
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千眼狼高速攝像機(jī)
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