光學膜厚儀的應用和原理

來源：優(yōu)尼康科技有限公司      分類：工作原理 2020-04-09 09:58:15 3431閱讀次數(shù)

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光學膜厚儀是一種非接觸式測量儀器，一般會運用在生產(chǎn)廠商大量生產(chǎn)產(chǎn)品的過程，由于誤差經(jīng)常會導致產(chǎn)品全部報廢，這時候就需要運用光學膜厚儀來介入到生產(chǎn)環(huán)境，避免這種情況的發(fā)生。

典型應用領域

半導體制造業(yè)，光刻膠、氧化物、硅或其他半導體膜層的厚度測量。

生物醫(yī)學原件：聚合物/聚對二甲苯；生物膜/球囊壁厚度；植入藥物涂層。

微電子：光刻膠；硅膜；氮化鋁/氧化鋅薄膜濾鏡                       

液晶顯示器：盒厚；聚酰亞胺；導電透明膜

由于是光學測量，在測量時候無須擔心破壞樣品，讓用戶簡單快速地測量薄膜的厚度和光學常數(shù)，通過對待測膜層的上下界面間反射光譜的分析，幾秒鐘內(nèi)就可測量結(jié)果。

優(yōu)尼康科技有限公司提供的光學膜厚儀，是一款桌面型的產(chǎn)品，操作簡單，適用領域廣闊，遠程的在線技術支持，讓膜厚測量更輕松。

系統(tǒng)特點：

嵌入式在線診斷方式；

免費離線分析軟件；

精細的歷史數(shù)據(jù)功能，幫助用戶有效地存儲，重現(xiàn)與繪制測試結(jié)果

優(yōu)尼康主要為半導體、新能源企業(yè)和高校及研發(fā)ZX提供各類精密進口制程及測量設備。提供全面的一對一銷售服務，技術支持，備件管理和咨詢服務。

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