193nm紫外波前傳感器(512x512高相位分辨率)助力半導(dǎo)體/光刻機(jī)行業(yè)發(fā)展
193nm紫外波前傳感器(512x512高相位分辨率)助力半導(dǎo)體/光刻機(jī)行業(yè)發(fā)展!
摘要:
昊量光電聯(lián)合法國(guó)Phasics公司推出全新一代193nm高分辨率(512x512)波前分析儀!該波前傳感器采用Phasics公司技術(shù)-四波橫向剪切干涉技術(shù),可以工作在190-400nm波段,消色差,具有2nm RMS的相位檢測(cè)靈敏度,能夠精確測(cè)量紫外光波前的細(xì)微變化。SID4-UV-HR 紫外波前分析儀非常適合紫外光學(xué)元件表征(DUV光刻、半導(dǎo)體等領(lǐng)域)和表面檢測(cè)(透鏡和晶圓等)。
193nm 紫外波前傳感器(512x512 高相位分辨率)在半導(dǎo)體/光刻機(jī)行業(yè)中具有重要作用。該傳感器具有高分辨率,消色差,對(duì)震動(dòng)不敏感,高靈敏度(2nm RMS)等特點(diǎn),可以為半導(dǎo)體制造和光刻機(jī)技術(shù)提供關(guān)鍵波像差數(shù)據(jù),有助于提高生產(chǎn)效率和產(chǎn)品質(zhì)量,推動(dòng)行業(yè)的發(fā)展。
在光刻機(jī)行業(yè)中,高精度的波前傳感器是關(guān)鍵組件之一。它可以實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)和校正光刻機(jī)光學(xué)系統(tǒng)中的誤差,從而提高光刻質(zhì)量和成品率。這款新的紫外波前傳感器的推出,將進(jìn)一步提升光刻機(jī)的性能,加速半導(dǎo)體行業(yè)的發(fā)展。
波前傳感器原理介紹:
193nm波前分析儀采用四波橫向剪切干涉技術(shù),該技術(shù)是一種用于測(cè)量激光波前、光刻物鏡波像差,光學(xué)元器件面型表征的技術(shù),其原理是測(cè)試光波經(jīng)過兩個(gè)正交(0、π)的相位光柵,獲得四個(gè)干涉光束,四束光兩兩干涉,通過測(cè)量這四個(gè)干涉光束的干涉后的光強(qiáng)分布來計(jì)算光波的相位分布。該技術(shù)采用0和π的二維光柵作為分光器件,利用該二維光柵將測(cè)試光分為四束,并使它們發(fā)生橫向剪切干涉,得到的單幅載頻干涉圖中包含兩正交方向的差分波前信息,通過特定的分析和定量計(jì)算(反傅里葉變換)可實(shí)現(xiàn)瞬態(tài)波前檢測(cè)。
波前傳感器主要功能介紹:
一、光學(xué)和光學(xué)系統(tǒng)計(jì)量
1.1 光刻物鏡和光學(xué)鏡頭計(jì)量
Phasics的四波橫向剪切干涉測(cè)量 (QWLSI) 波前傳感技術(shù)的獨(dú)特功能允許測(cè)量高數(shù)值孔徑光束(Up to NA:0.95),而無(wú)需任何中繼光學(xué)器件。這一獨(dú)特的優(yōu)勢(shì)簡(jiǎn)化了測(cè)量設(shè)置。在單次拍攝中,同時(shí)測(cè)量波前誤差 (WFE)和調(diào)制傳遞函數(shù) (MTF)。物鏡、子組件和zui終組件的鑒定是完整且易于實(shí)施的。事實(shí)上,SID4波前傳感器只需放置在聚焦后幾毫米處的發(fā)散光束中。測(cè)量后,借助 Phasics 軟件模塊 Design Pro,波前測(cè)量可以與理論 Zemax 模擬進(jìn)行比較。
1.2 復(fù)雜光學(xué)系統(tǒng)對(duì)準(zhǔn)/計(jì)量
參考球體或顯微鏡物鏡可以很容易地放置或擰到R-Cube模塊的出口處。在此配置中,點(diǎn)源創(chuàng)建一個(gè)發(fā)散光束,該發(fā)散光束注入被測(cè)系統(tǒng)中。實(shí)時(shí)波前顯示允許監(jiān)控和優(yōu)化光學(xué)對(duì)準(zhǔn)。
1.3面型檢測(cè)
當(dāng)集成到反射裝置中時(shí),Phasics SID4波前傳感器可以執(zhí)行面型檢測(cè)。Kaleo 軟件輸出3D 曲面圖和凸面或凹面(如透鏡、鏡子或模具)的曲率半徑。ISO 10110 標(biāo)準(zhǔn)定義的所有表面質(zhì)量參數(shù),如表面不規(guī)則度、粗糙度和波紋度,都是從該測(cè)量中計(jì)算得出的。也可以在任何方向上提取表面輪廓,并且可以將結(jié)果與理論表面進(jìn)行比較。
二、激光測(cè)試和自適應(yīng)光學(xué)控制
Phasics的波前傳感器以其無(wú)與倫比的高分辨率(512x512)和易用性而著稱。一臺(tái)儀器可以涵蓋廣泛的用途:光束測(cè)試、光學(xué)系統(tǒng)對(duì)準(zhǔn)、自適應(yīng)光學(xué)和等離子體表征。Phasics SID4波前傳感器為超快激光研究實(shí)驗(yàn)室和激光制造環(huán)境中的研發(fā)工程師、生產(chǎn)團(tuán)隊(duì)和研究人員提供了全面的多功能性。使用自適應(yīng)光學(xué)器件對(duì)光束進(jìn)行鑒定和校正可以在從紫外到長(zhǎng)波比橡膠的任何類型的激光系統(tǒng)上進(jìn)行:連續(xù)高功率、飛秒太瓦和拍瓦鏈、固態(tài)激光器、OPCPA、氣體激光器、可調(diào)諧激光器等。
2.1 激光檢測(cè)
SID4 波前傳感器與其光束分析軟件相結(jié)合,可對(duì)激光進(jìn)行完整的診斷:波前像差、強(qiáng)度分布、激光束質(zhì)量參數(shù)(M2、發(fā)散角、束腰等)。Phasics 的波前分析儀可以定位在光學(xué)裝置的任何點(diǎn),無(wú)論光束是準(zhǔn)直的還是發(fā)散的。Phasics SID4波前傳感器適用于從紫外(190nm)到遠(yuǎn)紅外(14um)的任何連續(xù)或脈沖激光。
2.2 自適應(yīng)光學(xué)
Phasics波前分析儀可與任何可變形光學(xué)器件兼容:如壓電可變形鏡、機(jī)械可變形鏡、電磁可變形鏡和MEMS可變形鏡以及空間光調(diào)制器和自適應(yīng)透鏡。為了校正超快激光,Phasics自適應(yīng)光學(xué)環(huán)路通過波前像差補(bǔ)償實(shí)現(xiàn)精細(xì)的校正。OASys 自適應(yīng)光學(xué)環(huán)路結(jié)合了 Phasics 獨(dú)特的高分辨率 SID4 波前傳感器和適合項(xiàng)目要求的可變形反射鏡設(shè)備,OASys可實(shí)現(xiàn)閉環(huán)控制。
波前傳感器產(chǎn)品分類介紹:
1)190-400nm紫外波前傳感器
2)400-1100nm可見光-近紅外波前分析儀
3)900-1700nm短波紅外波前分析儀
4)3-5um & 8-14um中遠(yuǎn)紅外波前傳感器
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