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2025-01-21 09:33:29頁巖納米孔隙: 頁巖納米孔隙是指存在于頁巖地層中的微小孔隙，其尺寸通常在納米級(jí)別。這些孔隙具有復(fù)雜的形態(tài)和分布特征，對(duì)頁巖氣的儲(chǔ)存和運(yùn)移起著關(guān)鍵作用。研究頁巖納米孔隙有助于了解頁巖氣的賦存狀態(tài)和開發(fā)潛力，對(duì)于能源勘探和開發(fā)具有重要意義。您是否有其他關(guān)于科學(xué)儀器的問題或需求？

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頁巖納米孔隙問答

2021-09-14 11:36:52雙孔隙通道（TPC）: 雙孔通道（TPC）是位于細(xì)胞內(nèi)體上的鈣通道。由第二信使NAADP和磷脂磷脂磷脂酰肌醇3,5-二磷酸，PtdIns（3,5）P2）激活，孔隙主要傳導(dǎo)Ca2+和Na+。已經(jīng)證明，它們?cè)诎２├《靖腥局衅鹬P(guān)鍵作用，并可能作為埃博拉病毒和其他絲狀病毒的抗病毒研究提供研究靶點(diǎn)。在內(nèi)質(zhì)體膜中，它們負(fù)責(zé)埃博拉病毒的進(jìn)入。Key PublicationsSakurai, Y., Kolokoltsov, A.A., Chen, C-C., et al. 2015. Two-pore channels control Ebola virus host cell entry and are drug targets for disease treatment. ScienceCastonguay, J., Orth, J.H.C., Müller, T., et al. 2017. The two-pore channel TPC1 is required for efcient protein processing through early and recycling endosomes. Nature Scientific ReportsMeasuring Two Pore ChannelsTwo Pore Channels can be measured using automated patch clamp when expressed in cell lines, in lysosomes, or using the Orbit instruments when they are recombinantly expressed in bilayers.Automated patch clampParallel bilayer recordingsCytotoxicity measurementsPublications using Instruments from Nanion2017 - Organelle membrane derived patches: reshaping classical methods for new targets2014 - High susceptibility to fatty liver disease in two-pore channel 2-deficient mice2010 - Planar Patch Clamp Approach to Characterize Ionic Currents from Intact Lysosomes2010 - Characterization of two pore channel 2 (TPCN2) -mediated Ca2+ currents in isolated lysosomes

2022-04-11 15:52:58巖石孔隙流體的核磁共振弛豫機(jī)制: 巖石孔隙流體的核磁共振弛豫機(jī)制自由弛豫、表面弛豫和擴(kuò)散弛豫3種不同的弛豫機(jī)制存在于巖石孔隙流體的核磁共振弛豫中，一般三種弛豫行為同時(shí)存在的。1、自由弛豫自由弛豫，即流體特有的體弛豫現(xiàn)象，其弛豫時(shí)間由流體物理特性（粘度、化學(xué)成分等）及流體所處的環(huán)境（溫度、壓力等）決定。在石油工業(yè)核磁研究過程中，由于巖石表面為固體，通常巖石孔隙內(nèi)的流體表面弛豫比體弛豫強(qiáng)。然而當(dāng)親水巖石孔隙中油氣屬于非潤(rùn)濕相，巖石中存在裂縫導(dǎo)致流體與固體表面接觸較少，以及稠油等流體粘度較大的情況下，流體與巖石孔隙之間自由弛豫現(xiàn)象不可忽視，此時(shí)需要同時(shí)考慮自由弛豫和表面弛豫的影響。2、表面弛豫巖石孔隙表面的弛豫機(jī)制即為表面弛豫，具體表現(xiàn)為孔隙流體與巖石固體表面之間的弛豫現(xiàn)象。3、擴(kuò)散弛豫分子處于布朗運(yùn)動(dòng)過程中會(huì)進(jìn)行自擴(kuò)散運(yùn)動(dòng)，擴(kuò)散弛豫即為質(zhì)子在梯度磁場(chǎng)中，由于分子擴(kuò)散引起的弛豫特性。巖石中孔隙流體的類型、孔隙尺寸、孔隙發(fā)育結(jié)構(gòu)、孔隙表面巖石物理性質(zhì)以及巖石顆粒表面潤(rùn)濕性等條件決定了3種弛豫機(jī)制對(duì)于孔隙內(nèi)流體是否起作用。通常對(duì)于親水巖石來說，孔隙中水的T2弛豫時(shí)間主要由表面弛豫決定；對(duì)于稠油來說，其T2弛豫主要由自由弛豫決定；而輕質(zhì)油的T2弛豫時(shí)間則由自由弛豫和擴(kuò)散弛豫共同決定，并與油的粘度有關(guān)；天然氣由于氣體分子的擴(kuò)散特性，其T2弛豫時(shí)間主要受控于擴(kuò)散弛豫。

2022-04-24 16:42:23納米多孔氧化鋁: 本品為化學(xué)法合成的白色球形粉末，無重金屬、無放射性元素。物理指標(biāo)①晶相 γ相②AI2O3含量 ≥99.9③ 介孔 0.38④ 原晶粒度 50-60納米化學(xué)指標(biāo)①本品用于噴墨打印紙的涂層，為紙張?zhí)岣吖鉂伞＂趬埣油苛系哪湍バ裕哂兄鳌?提高上粉率、防結(jié)塊等特點(diǎn)應(yīng)用范圍①導(dǎo)熱硅膠②電子灌封膠③粉末涂料公眾號(hào)搜索粉體圈，聯(lián)系報(bào)價(jià)。聯(lián)系方式：400-869-9320轉(zhuǎn)8990更多信息進(jìn)入店鋪查看：https://www.360powder.com/shop.html?shop_id=1727

2023-04-20 09:37:22BeNano 180 Zeta Pro 納米粒度及 Zeta: BeNano 180 Zeta Pro 納米粒度及 Zeta 電位分析儀BeNano 180 Zeta Pro 納米粒度及 Zeta 電位分析儀——背向 + 90°散射粒度 + Zeta 電位三合一型儀器簡(jiǎn) 介BeNano 180 Zeta Pro 納米粒度及Zeta電位分析儀是BeNano 90+BeNano 180+BeNano Zeta 三合一的頂級(jí)光學(xué)檢測(cè)系統(tǒng)。該系統(tǒng)中集成了背向 +90°動(dòng)態(tài)光散射 DLS、電泳光散射 ELS和靜態(tài)光散射技術(shù) SLS，可以準(zhǔn)確的檢測(cè)顆粒的粒徑及粒徑分布，Zeta 電位，高分子和蛋白體系的分子量信息等參數(shù)，可廣泛的應(yīng)用于化學(xué)、化工、生物、制藥、食品、材料等領(lǐng)域的基礎(chǔ)研究和質(zhì)量分析與控制。指標(biāo)與性能Index＆performance粒徑測(cè)試原理：動(dòng)態(tài)光散射技術(shù)粒徑范圍：0.3 nm – 15 μm樣品量：3 μL - 1 mL檢測(cè)角度：173°+90°+12°分析算法：Cumulants、通用模式、CONTIN、NNLSZeta電位測(cè)試原理：相位分析光散射技術(shù)檢測(cè)角度：12°Zeta范圍：無實(shí)際限制電泳遷移率范圍：> ±20 μ.cm/V.s電導(dǎo)率范圍：0 - 260 mS/cmZeta測(cè)試粒徑范圍：2 nm – 110 μm分子量測(cè)試分子量范圍：342 Da – 2 x 107 Da微流變測(cè)試頻率范圍：0.2 – 1.3 x 107 rad/s測(cè)試能力：均方位移、復(fù)數(shù)模量、彈性模量、粘性模量、蠕變?nèi)崃空扯群驼酃饴蕼y(cè)試粘度范圍：0.01 cp – 100 cp折光率范圍：1.3-1.6趨勢(shì)測(cè)試模式：時(shí)間和溫度系統(tǒng)參數(shù)溫控范圍：-15° C - 110° C+/- 0.1°C冷凝控制：干燥空氣或者氮?dú)鈽?biāo)準(zhǔn)激光光源：50 mW 高性能固體激光器， 671 nm相關(guān)器：最快25 ns采樣，最多 4000 通道，1011 動(dòng)態(tài)線性范圍檢測(cè)器：APD （高性能雪崩光電二極管）光強(qiáng)控制：0.0001% - 100%，手動(dòng)或自動(dòng)軟件中文和英文符合21CFR Part 11原理圖儀器檢測(cè)檢測(cè)參數(shù)顆粒體系的光強(qiáng)、體積、面積和數(shù)量分布顆粒體系的 Zeta 電位及其分布分子量分布系數(shù) PD.I擴(kuò)散系數(shù) D流體力學(xué)直徑 D H顆粒間相互作用力因子 k D溶液粘度檢測(cè)技術(shù)動(dòng)態(tài)光散射電泳光散射靜態(tài)光散射

2022-07-14 15:06:51淺談掃描俄歇納米探針: 簡(jiǎn)介掃描俄歇納米探針，又稱俄歇電子能譜（Auger Electron Spectroscopy，簡(jiǎn)稱AES）是一種表面科學(xué)和材料科學(xué)的分析技術(shù)。根據(jù)分析俄歇電子的基本特性得到材料表面元素成分（部分化學(xué)態(tài)）定性或定量信息。可以對(duì)納米級(jí)形貌進(jìn)行觀察和成分表征。近年來，隨著超高真空和能譜檢測(cè)技術(shù)的發(fā)展，掃描俄歇納米探針作為一種極為有效的表面分析工具，為探索和研究表面現(xiàn)象的理論和工藝問題，做出了巨大貢獻(xiàn)，日益受到科研工作者的普遍重視。俄歇電子能譜常常應(yīng)用在包括半導(dǎo)體芯片成分表征等方向發(fā)展歷史近年來，固體表面分析方法獲得了迅速的發(fā)展，它是目前分析化學(xué)領(lǐng)域中最活躍的分支之一。它的發(fā)展與催化研究、材料科學(xué)和微型電子器件研制等有關(guān)領(lǐng)域內(nèi)迫切需要了解各種固體表面現(xiàn)象密切相關(guān)。各種表面分析方法的建立又為這些領(lǐng)域的研究創(chuàng)造了很有利的條件。在表面組分分析方法中，除化學(xué)分析用光電子能譜以外，俄歇電子能譜是最重要的一種。目前它已廣泛地應(yīng)用于化學(xué)、物理、半導(dǎo)體、電子、冶金等有關(guān)研究領(lǐng)域中。俄歇現(xiàn)象于1925年由P.Auger發(fā)現(xiàn)。28 年以后，J.J.Lander從二次電子能量分布曲線中第一次辨認(rèn)出俄歇電子譜線，但是由于俄歇電子譜線強(qiáng)度低，它常常被淹沒在非彈性散射電子的背景中，所以檢測(cè)它比較困難。 1968年，L.A.Harris 提出了一種“相敏檢測(cè)”方法，大大改善了信噪比，使俄歇信號(hào)的檢測(cè)成為可能。以后隨著能量分析器的完善,使俄歇譜儀達(dá)到了可以實(shí)用的階段。 1969年圓筒形電子能量分析器應(yīng)用于AES, 進(jìn)一步提高了分析的速度和靈敏度。 1970年通過掃描細(xì)聚焦電子束,實(shí)現(xiàn)了表面組分的兩維分布的分析(所得圖像稱俄歇圖)，出現(xiàn)了掃描俄歇微探針儀器。 1972年，R.W.Palmberg利用離子濺射，將表面逐層剝離，獲得了元素的深度分析，實(shí)現(xiàn)了三維分析。至此，俄歇譜儀的基本格局已經(jīng)確定， AES已迅速地發(fā)展成為強(qiáng)有力的固體表面化學(xué)分析方法，開始被廣泛使用。基本原理俄歇電子是由于原子中的電子被激發(fā)而產(chǎn)生的次級(jí)電子。當(dāng)原子內(nèi)殼層的電子被激發(fā)形成一個(gè)空穴時(shí)，電子從外殼層躍遷到內(nèi)殼層的空穴并釋放出光子能量；這種光子能量被另一個(gè)電子吸收，導(dǎo)致其從原子激發(fā)出來。這個(gè)被激發(fā)的電子就是俄歇電子。這個(gè)過程被稱為俄歇效應(yīng)。Auger electron emission 入射電子束和物質(zhì)作用，可以激發(fā)出原子的內(nèi)層電子。外層電子向內(nèi)層躍遷過程中所釋放的能量，可能以X光的形式放出，即產(chǎn)生特征X射線，也可能又使核外另一電子激發(fā)成為自由電子，這種自由電子就是俄歇電子。對(duì)于一個(gè)原子來說,激發(fā)態(tài)原子在釋放能量時(shí)只能進(jìn)行一種發(fā)射：特征X射線或俄歇電子。原子序數(shù)大的元素，特征X射線的發(fā)射幾率較大，原子序數(shù)小的元素，俄歇電子發(fā)射幾率較大，當(dāng)原子序數(shù)為33時(shí)，兩種發(fā)射幾率大致相等。因此，俄歇電子能譜適用于輕元素的分析。如果電子束將某原子K層電子激發(fā)為自由電子，L層電子躍遷到K層，釋放的能量又將L層的另一個(gè)電子激發(fā)為俄歇電子，這個(gè)俄歇電子就稱為KLL俄歇電子。同樣，LMM俄歇電子是L層電子被激發(fā)，M層電子填充到L層，釋放的能量又使另一個(gè)M層電子激發(fā)所形成的俄歇電子。只要測(cè)定出俄歇電子的能量，對(duì)照現(xiàn)有的俄歇電子能量圖表，即可確定樣品表面的成份。由于一次電子束能量遠(yuǎn)高于原子內(nèi)層軌道的能量，可以激發(fā)出多個(gè)內(nèi)層電子，會(huì)產(chǎn)生多種俄歇躍遷，因此,在俄歇電子能譜圖上會(huì)有多組俄歇峰，雖然使定性分析變得復(fù)雜，但依靠多個(gè)俄歇峰,會(huì)使得定性分析準(zhǔn)確度很高，可以進(jìn)行除氫氦之外的多元素一次定性分析。同時(shí),還可以利用俄歇電子的強(qiáng)度和樣品中原子濃度的線性關(guān)系,進(jìn)行元素的半定量分析,俄歇電子能譜法是一種靈敏度很高的表面分析方法。其信息深度為5nm以內(nèi),檢出限可達(dá)到0.1%atom。是一種很有用的分析方法。系統(tǒng)組成 AES主要由超高真空系統(tǒng)、肖特基場(chǎng)發(fā)射電子槍、CMA同軸式筒鏡能量分析器、五軸樣品臺(tái)、離子槍等組成。以ULVAC-PHI的PHI 710舉例，其核心分析能力為25 kV肖特基熱場(chǎng)發(fā)射電子源，與筒鏡式電子能量分析器CMA同軸。伴隨著這一核心技術(shù)是閃爍二次電子探測(cè)器、高性能低電壓浮式氬濺射離子槍、高精度自動(dòng)的五軸樣品臺(tái)和PHI創(chuàng)新的儀器控制和數(shù)據(jù)處理軟件包：SmartSoft AES ? 和 MultiPak ?。并且，目前ULVAC-PHI的PHI 710可以擴(kuò)展冷脆斷樣品臺(tái)、EDS、EBSD、BSE、FIB等技術(shù)，深受廣大用戶認(rèn)可。PHI710激發(fā)源，分析器和探測(cè)器結(jié)構(gòu)示意圖：為滿足當(dāng)今納米材料的應(yīng)用需求，PHI 710提供了最高穩(wěn)定性的 AES 成像平臺(tái)。隔聲罩、低噪聲電子系統(tǒng)、穩(wěn)定的樣品臺(tái)和可靠的成像匹配軟件可實(shí)現(xiàn) AES對(duì)納米級(jí)形貌特征的成像和采譜。真正的超高真空（UHV）可保證分析過程中樣品不受污染，可進(jìn)行明確、準(zhǔn)確的表面表征。測(cè)試腔室的真空是由差分離子泵和鈦升華泵（TSP）抽氣實(shí)現(xiàn)的。肖特基場(chǎng)發(fā)射源有獨(dú)立的抽氣系統(tǒng)以確保發(fā)射源壽命。最新的磁懸浮渦輪分子泵技術(shù)用于系統(tǒng)粗抽，樣品引入室抽真空，和差分濺射離子槍抽氣。為了連接其他分析技術(shù)，如EBSD、 FIB、 EDS 和BSE，標(biāo)配是一個(gè)多技術(shù)測(cè)試腔體。 PHI 710 是由安裝在一個(gè)帶有 Microsoft Windows ? 操作系統(tǒng)的專用 PC 里的PHI SmartSoft-AES 儀器操作軟件來控制的。所有PHI電子光譜產(chǎn)品都包括執(zhí)行行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)的 PHI MultiPak 數(shù)據(jù)處理軟件用于獲取數(shù)據(jù)的最大信息。710 可應(yīng)用互聯(lián)網(wǎng)，使用標(biāo)準(zhǔn)的通信協(xié)議進(jìn)行遠(yuǎn)程操作。AES的應(yīng)用掃描俄歇納米探針可分析原材料（粉末顆粒，片材等）表面組成，晶粒觀察，金相分布，晶間晶界偏析，又可以分析材料表面缺陷如納米尺度的顆粒物、磨痕、污染、腐蝕、摻雜、吸附等，還具備深度剖析功能表征鈍化層，包覆層，摻雜深度，納米級(jí)多層膜層結(jié)構(gòu)等。AES的分析深度4-50 ?，二次電子成像的空間分辨可達(dá) 3納米，成分分布像可達(dá)8納米，分析材料表面元素組成（Li ~ U），是真正的納米級(jí)表面成分分析設(shè)備。可滿足合金、催化、半導(dǎo)體、能源電池材料、電子器件等材料和產(chǎn)品的分析需求。AES 應(yīng)用的幾種例子，從左到右為半導(dǎo)體FIB-cut，鋰電陰極向陶瓷斷面分析小結(jié)本文小編粗淺的介紹了俄歇電子能譜AES的一些基礎(chǔ)知識(shí)，后續(xù)我們還會(huì)提供更有價(jià)值的知識(shí)和信息，希望大家持續(xù)關(guān)注“表面分析家”！

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