AFM+的主要特點：

簡潔的安裝與操作

□ AFM+為最便利的使用而設計制造。探針預裝在金屬圓片上，確保探針位置的準確性和裝針的便捷

□ 儀器集幾十年AFM設計大師的經驗之大成，即使初次使用也能快速獲取結果

完整的AFM工作模式

□ 包含所有常規成像模式：接觸、輕敲、相位、側向力、力調制、力曲線

□ 獨有高分辨率低噪音的閉環成像

□  基于DI傳承的多功能AFM，實現納米熱學，力學，電學和磁學測量：

l   納米熱分析模塊（nanoTA, SThM）

l   洛侖茲接觸共振模塊（LCR）

l   導電原子力顯微鏡鏡（CAFM）

l   開爾文電勢顯微鏡（KPFM）

l   磁力顯微鏡（MFM）

l   靜電力顯微鏡（EFM）

獨有的可升級功能

□ 熱學性能：獨有的熱探針技術，提供納米級紅外分析

□ 機械性能：洛倫茲接觸共振模式能夠提供寬頻納米機械分析

□ 化學性能：可升級具有納米紅外光譜技術，實現局部化學組分分析

□ 近場成像：可升級具有散射式近場光學成像和光譜采集功能