XEMIS是一款高精度的吸附微量天平，用于極端環境下的精密測量。它可作為微量天平單獨使用，也可作為完整的吸附分析儀器。XEMIS有著出色的靈活性以及卓越的稱量精度和穩定性。

• XEMIS微量天平采用了Hiden Isochema特有的外部感知技術，可在高溫、高壓條件下進行重量吸附分析，也可與其他商業化的吸附微量天平儀器聯用。

• 外部感知技術，把敏感元件置于天平室外部，允許腐蝕性和易燃氣體的操作
• 幾何對稱、精密設計的微量天平
• 內部容積最小化
• 大容量微量天平（5克），分辨率0.2μg和長期穩定性±5μg
• 寬動態稱量范圍（0-200毫克）
• 操作壓力高達200bar
• 單獨的反應器可進行從77 K到773 K的全溫度范圍測量
• 無需重新歸零或原位校準
• 采用IGA特有的終點預測方法
• 全金屬結構由高品質的VCR裝配

產品應用
XEMIS的應用領域:

• 氣體吸附分析
• 等溫線的測定
• 動力學分析
• 熱力學研究
• 儲氫
• 甲烷存儲
• 二氧化碳封存
• 氣體的分離與純化
• 超臨界氣體吸附
• 頁巖氣和煤層沼氣研究
• 離子液體中的氣體溶解度測量
• 化學吸附研究
• 化學反應的研究 (例如 氧化/氮化)
• 金屬有機骨架(MOFs)/多孔配位框架
• 活性炭、碳分子篩和模板碳
• 沸石和沸石類物質
• 多孔聚合物