三目正置金相顯微鏡XJ-56C采用優良的無限遠光學系統與模塊化功能設計理念，可以方便升級系統，可選配暗場裝置和微分干涉裝置，輕易實現暗場觀察、DIC微分干涉觀察等功能。導柱升降裝置，可以快速調整工作臺與物鏡之間的距離，適用于不同厚度工件表面的金相組織結構與工件表面質量進行顯微觀察，主要用于精密零件，集成電路，包裝材料等產品檢測。總放大倍數：50X-600X 
◆性能特點：
1、立柱高度可調，尤其適合不同高度的大工件金相組織級表面觀察。
2、采用了當今最為先進的無限遠光路設計，提供了卓越的光學系統。
3、無限遠長工作距平場物鏡和大視野平場目鏡，視場寬闊平坦清晰。 
4、配置了內置推拉式檢偏器與起偏器，適合觀察高反光材料的表面。
5、整機采用了防霉處理，有效保護了鏡頭，延長了儀器的使用壽命。。
◆典型應用：
1、分析金屬、礦相內部結構組織。2、電子廠PCB板、芯片檢驗。
2、觀察材料表面的某些特性， 如：劃痕、裂紋、噴涂的均勻性。

一、顯微鏡參數：

二、目鏡參數：

三、物鏡參數：

一、顯微鏡選購件：

二、攝像系統選購：

三、分析軟件選購：