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掃描探針顯微鏡SPM-9700HT
- 品牌:日本島津-GL
- 型號: SPM-9700HT
- 產地:亞洲 日本
- 供應商報價:面議
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島津企業管理(中國)有限公司
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銷售范圍售全國
入駐年限第10年
營業執照
- 同類產品 電子探針系列(4件)
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詳細介紹
探知未來
原子力顯微鏡(AFM)是在樣品表面用微小的探針進行掃描,通過高倍率觀察三維形貌和局部物理特性的顯微鏡總稱。SPM-9700HT更是性能高、速度快、操作簡單的新一代掃描探針顯微鏡。新開發的可快速響應的HT掃描器加之軟件與控制系統設計的優化,成功實現掃描速度比傳統設備快5倍以上。
獨具匠心的探針更換夾具,讓小心翼翼的探針更換操作變得簡捷輕松。
樣品交換時也可保持激光穩定照射懸臂。照射穩定性優異,分析時間也大幅度縮短。
可從不同角度放大拉伸圖像進行確認。鼠標操作簡單,更可進行3D斷面形狀分析。
按照操作指南指導操作順序,使用導航功能直接鎖定觀察位置,實現了SPM的快速簡便的觀察
具備豐富的測定模式和優異的擴展性,可對不同硬度、不同導電性能等各式樣品進行觀察分析。
控制氣氛掃描探針顯微鏡 WET-SPM
可以控制樣品和周邊環境,在可控氣氛下進行樣品處理,并直接進行SPM觀察。
選配系統具有溫度濕度控制單元、樣品加熱冷卻單元、樣品加熱單元、吹起單元。粒度分析軟件
從圖像數據中選取復數顆粒,對每一顆粒進行特征量的計算,并進行分析、顯示,以及及進行統計處理。微小部熱分析試驗儀器復合型SPM系統 SPM+nano-TA2(nano-TA2為Anasys Instruments公司產品)可以進行樣品表面的三維形貌觀察和點的熱分析。
觀察模式 標準 接觸模式
動態模式
相位模式
水平力模式(LFM)
力調制模式
矢量掃描模式選購件 磁力(MFM)模式)
電流模式
表面電位(KFM)模式分辨率 XY 0.2 nm Z 0.01 nm AFM頭部 位移監測系統 光源/光杠桿/檢測器 光源 激光二極管(On/Off均可)
更換樣品無需調整光路檢測器 光敏二極管 掃描器 驅動元件 管狀壓電元件 最大掃描范圍
(X*Y*Z)30μm×30μm×5μm?。藴剩?br style="box-sizing: border-box;">125μm×125μm×7μm?。ㄟx購)
55μm×55μm×13μm?。ㄟx購)
2.5μm×2.5μm×0.3μm (選購)樣品臺 最大樣品形狀 φ24mm×8mm 樣品裝載方式 頭部滑動機構
懸臂安裝狀態下可直接裝載樣品樣品固定方式 磁性固定 Z軸驅動機構 驅近方式 全自動驅近 最大可驅近范圍 10mm 信號顯示板 顯示量 檢測器的總入射光量(數字顯示) 減震機構 減震臺 SPM單元內置 光學顯微鏡觀察 方式 分束器滑動機構 專用風擋 方式 無需或者使用氣氛控制腔體 氣氛控制 方式 無需改造SPM單元可直接導入氣氛腔體 技術資料