30m
0.5-3000μm
0.07微米
1%
JX-2000顆粒圖像分析儀
一、應用范圍
適用于石墨、磨料、陶瓷、碳化硅、硅灰石、金剛石、金屬粉、碳粉、藥粉、涂料、水泥、硬質合金、催化劑、云母粉、填料等各種粉末物料顆粒的形貌觀察和粒度分析。
二、性能特點
1. JX-2000顆粒圖像分析儀，工業級攝像頭高速采集，光學顯微鏡放大成像，圖像快速顯示于電腦，直接觀察顆粒形貌，專用軟件進行顆粒數據處理。
2. 測量范圍：0.5μm～3000μm
3. 接口方式：USB連接。
4. 平場消色差物鏡，分辨率0.07微米，光學放大倍數1600倍，打印倍數4000倍(A4幅面)。
5. 供等面積和等周長兩種基準下的個數、直徑、面積、體積、圓形度等分布數據。同時提供顆粒數、D10、D50、D90、平均粒徑、表面積、長徑比等粒度分布數據，配有(30)多種圖像分析和處理功能，可以滿足各種圖像處理需要。
6. 對采集的圖像進行調整高度、寬度、亮度、對比度、濾波、填充等，提高分析分辨率，網格標注顆粒尺寸等功能，使測試結果更真實可靠。
7. 儀器分二種型號，技術原理、參數都相同，JX-2000A型顆粒圖像分析儀配置透射顯微鏡，JX-2000B型顆粒圖像分析儀配置透反射顯微鏡，后者還可用于陶瓷、金屬等各種不透光物體表面晶形的觀察分析。
8. 顆粒形貌圖像可存盤和打印，還可輸出多種格式的測試報告。另可根據行業特殊要求，設計磨料、硅灰石等專用軟件。
三、 圖像分析處理功能
1. 色調處理：負像、灰度化、色調調整、亮度、對比度調整；
2. 圖像矯正：水平鏡像、垂直鏡像、90度（逆時針)、90度(順時針) 、旋轉、放大、縮小任意比例縮放等；
3. 測量單位：微米、毫米、厘米、英吋任選；
4. 圖像增強：對比度均衡、膨脹、腐蝕等；
5. 圖像處理：圖像銳化，邊緣平滑，二值化，邊界濾波，分析目標擦除、孔洞填充，手工擦除，手工連接，粒子屬性查看、設置標尺、網格等功能；
6. 分析參數：
（1）幾何參數：每個顆粒的質心 X、Y 坐標位置，像素；
（2）當量幾何參數：等面積圓直徑，等周長圓直徑，長徑，短徑，長徑比；
（3）外接幾何參數：每個顆粒的外接圓直徑；
（4）光密度參數：圖像 R、G、B、灰度分布；
（5）形態學參數：長徑比，圓度系數；
上傳人：成都精新粉體測試設備有限公司
大小：0 B
1072
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ZKFT-1600圖像顆粒分析儀包括光學顯微鏡、數字CCD攝像頭、圖像處理與分析軟件、電腦、打印機等部分組成。它是將傳統的顯微測量方法與現代的圖像處理技術結合的產物。它的基本工作流程是通過專用數字攝像機將顯微鏡的圖像拍攝下來并傳輸到電腦中，通過專門的顆粒圖像分析軟件對顆粒圖像進行處理與分析，從而得到每一個顆粒的粒度和粒形信息，再將每一個顆粒的粒度和粒形信息進行統計，從而得到粒度（D50）及粒度分布、平均長徑比及長徑比分布、平均圓形度及圓形度分布等結果。
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