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德國InfraTec Thermal 鎖相紅外熱成像系統熱成像顯微鏡-1280（中波制冷型）德國In
- 品牌：德國英福泰克
- 型號： 德國InfraTec Thermal
- 產地：歐洲 德國
- 供應商報價：￥1
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似空科學儀器（上海）有限公司
更新時間：2025-07-18 17:51:54 -
銷售范圍售全國
入駐年限第8年
營業執照已審核
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產品特點
- 微米級芯片瞬態熱特性測試系統用于測量芯片瞬態結溫、熱阻組成、熱容組成等熱特性參數。系統主要構成包括：紅外熱像儀、熱阻測試臺、電源、數據采集及分析系統（工作站電腦）、恒溫臺等。
詳細介紹
ImageIR? 9500 制冷式高清中波紅外熱像主機
微米級芯片瞬態熱特性測試系統的主要優勢：
1. 主要部件在德國設計和制造，品質優良、穩定可靠。
2. 采用640 x 512紅外像素探測器，為測試微小結構提供更寬的視場和更高的分辨力。
3. 可選多種規格特寫和顯微鏡頭，解析度可達1.9 微米。
4. 可對極短的峰值信號進行分析，測量數據直接傳輸到計算機。
5. zui短的抖動時間和各種輸入和輸出選項賦予本系統在使用和測量程序設置方面更高的靈活性。 6. 即便是20mK甚或是更小的溫差也可以被輕松地探測到。
7. 電子元件的脈沖激勵式測量 通過設置電子元件的功率脈沖增強測量zui小溫度偏查的能力。InfraTec提供硬件和軟件來實現這種更精確的測量。
8. 從定性到精確的定量分析，這將幫助您以專業的方式進行測量。
9.本系統 附帶了一個全面的軟件包 IRBIS ? 3。此模塊化的軟件將適合您的特定需求，并使熱像儀的控制、 數據采集和數據分析方便易行。各式各樣的執行功能將為數據分析變得簡便高效。
性能參數表
熱成像主機
ImageIR 9500
典型應用：
□航空航天
□醫學
□激光加工
□微細結構紅外成像
□電子、微電子領域測溫
□半導體材料、器件測溫
□金屬和非金屬材料制備
□非破壞性材料測試
□Lock-in熱點成像
□PPT脈沖熱成像
□材料應力測試分析
□太陽能電池質量檢測
探測器類型
碲鎘汞（MCT)
光譜范圍
3.7～4.8(μm)
探測器規格
(1280 x 720)像素, 12μm
MicroScanning
精密光機微掃組件，實時生成(2560x1440)像素超高清紅外熱圖(可選)
熱靈敏度(NETD)
≤ 20mK@30oC
冷卻方式
長壽命低功耗分置式線性化制冷器
標準測溫量程
(-10～+200)oC
可選量程擴展
低溫至-40oC；高溫至3000oC
測量精度
±1oC或±1%
動態范圍
14bit，16bit (可選)
滿幀幀頻
120Hz @ (1280 x 720)像素
子窗口模式
自定義成像窗口大小和位置
非均質化校正
外部手動校正；可選內置實時電動快門
積分時間（μs）
1～20,000
電動光譜濾鏡轉輪
可內置1 組4孔或5孔位轉輪，適用于精確測溫和對特定光譜成像，孔位 選擇可手動和自動轉換
對焦方式
手動或軟件操控電動對焦，具全區域自動、多區域自動、指定距離等方式
I/O接口
集成化4通道，包括 2路數字輸入，2路數字 / 模擬輸出
操控和傳輸接口
10GigE 萬兆以太網
IRIG-B時間戳
集成到紅外數據中，20ns精度
電源/功耗
(110-230)VAC / 50Hz輸入 / 24VDC輸出，穩態條件下約30W
外殼材質
堅固、耐用輕質合金
防護等級
IP54 IEC529 ， IP 67 可選
存儲/操作溫濕度
-40～+70oC / -20～+50oC, 10-95% 無冷凝
尺寸 / 重量
約241 x 123 x 160mm (LxWxH) / 約4.7 kg，不包括鏡頭
固定安裝
UNC 1/4″和 3/8″標準相機螺紋，2xM5
常規可選鏡頭包括： 25mm 廣角 、50mm 標準、1.0X 顯微、8.0X 顯微等。
滬公網安備 31011502008050號