產品介紹:
該樣品支架旨在減少樣品裝載量,并消除非導電樣品的額外樣品制備。樣品(如紙、聚合物、有機材料、陶瓷、玻璃和涂層)成像變得快速和無障礙。
性能數據
與標準 Phenom 樣品支架相比,裝載樣品前可見的放大倍數高達 8 倍。
濺射涂層的需求顯著降低,導致不需要額外的設備和更快的樣品制備。
非導電樣品可以在其自然狀態下成像,提供有價值的背散射材料襯度信息。
上傳人:賽默飛電子顯微鏡
大小:0 B
257
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在研究先進材料時,首先需要對樣品的表面形貌、晶體結構和化學成分有深刻的了解。無論您是想實現下一次技術創新,還是專注于產品研發和生產,這些性息都能幫助您更加了解初始材料的性能,評估缺陷,并確保成品的質量
用于自動化、高通量半導體晶片分析的 TEM 分析樣品制備工作。
提供高分辨率 X 射線光電子能譜和成像的多技術表面分析儀。
用于快速原型設計和半導體電路調試和維修的電路編輯技術。