CSI是一家法國科學設備制造商，擁有專業的AFM設計概念，以及為現有的AFM提供設計選項。它避免了激光對準需要預先定位針尖的系統，針尖/樣品的頂部和側視圖，結合垂直的馬達控制系統，使預先趨近更加容易，通過光學視窗和X-Y樣品平移臺相結合使得樣品定位簡單，為研究型實驗室或工廠提供解決方案。

    基本技術特點

1）控制器規格

   XY掃描范圍  100 μm（±10%），Z軸掃描范圍9μm （±10%），XY驅動分辨率24位控制-0.06?m

   數據采樣點高達4096

2）預先配置的模式

   不需要增加額外的模塊就能實現所有需要的測量，通過簡單地選擇AFM模式，軟件驅動和連接到相應的電子設備不會產生錯誤。通過一個簡單的點擊，你可以在所有的AFM模式之間切，

3）柔性材料電學測試ResiScope

   柔性ResiScope原理是基于間歇接觸，樣品的摩擦禮盒針尖的恒定力提供定量的測量，不損壞精細樣品的表面。

4）高清KFM模式

   除了標準的KFM模式， Nano-Observer還能提供一種高清KFM模式，較為大提高了分辨率，并提高了表面電位的測量靈敏度，

5）Nano-Observer環境控制

   設計提供了環境控制模塊（氣體，濕度，溫度），為提高電器測量性能或者保護樣品免受氧化     

    應用

普通樣品/生物樣品表面形貌

多模塊配置測量（PFM/KFM/EAFM/CAFM等）

通過ResiScopeTM模式掃描（超過10個數量級的電流，電阻）。