硬件名稱：

技術參數

探測器

美國Amptek X-55 Si-PIN探測器，整體

l Be窗厚度:1mil

l 晶體面積:25mm ²

l 信號處理系統:DP5

l ZJ分辨率:145eV

高壓電源

l 輸出電壓：0~50kV

l 燈絲電流：0~2mA

l ZD功率：50W

l 8小時穩定性：0.05%

射線管

l 輸出電壓：0~50kV

l 燈絲電流：0~2mA

l ZD功率：50W

l 靶 材：Mo

l Be窗厚度：0.2mm

l 使用壽命：2萬小時

準直器

l 多種濾光片、準直器自動切換

l 光斑大小：Φ0.1mm、Φ0.3mm、Φ0.7mm、Φ1.2mm、Φ2.0mm、Φ5.0mm、Φ7.0mm。可任選4種X射線光斑

樣品倉大小

l 樣品倉大小可定制！

外形尺寸 ：510mm×380mm×395mm（H）

樣品倉尺寸 ：360mm×330mm×80 mm（H）

精密度（EC-681K）

Pb ≤ 5ppm，Hg ≤ 5ppm， Br ≤ 7ppm， Cr ≤ 6ppm， Cd ≤ 5ppm

準確度（EC-681K）

Pb ≤ 7ppm，Hg ≤ 5ppm， Br ≤ 5ppm， Cr ≤ 3ppm， Cd ≤ 4ppm

檢出限

對聚合物材料：Pb ≤ 5ppm，Hg ≤ 5ppm， Br ≤ 5ppm， Cr ≤ 5ppm， Cd ≤ 5ppm；

對銅基體材料：Pb ≤ 20ppm

鍍層：0.003um-40um

測量時間

15-240 秒（軟件可自動調整）

測試元素范圍

測試元素范圍：S-U中的元素。

ROHS限定有害元素：鉛（Pb），汞(Hg)，鎘(Cd)，鉻(Cr⁶⁺)，多溴聯苯(PBBS)，多溴二苯醚(PBDE) + 鹵素。

玩具指令：鉛（Pb），汞(Hg)，鎘(Cd)，鉻(Cr)，銻（Sb），砷(As)，鋇(Ba)，硒(Se).

合金：銅材，鐵合金，鎳合金，錫合金，鈦合金，貴金屬等。

鍍層：Ag/Sn/Au/Ni-Cu， Cr/Zn/Ni/Ag-Fe。

檢測范圍

1ppm-99.99%

測試樣品類型

固體、粉末和液體

CCD觀察

500萬像素高清CCD

輸入電源

AC220V～240V，50/60Hz

工作環境溫度

溫度15-35℃

工作環境相對濕度

≤85%（不結露）

重量

約35Kg