產(chǎn)品介紹：

Dimension IconIR

布魯克大樣品臺(tái)Dimension IconIR系統(tǒng)將納米紅外光譜技術(shù)(AFM-IR)和掃描探針技術(shù)(SPM)集成到一個(gè)平臺(tái)，為學(xué)術(shù)界和工業(yè)界用戶提供先進(jìn)的納米光譜、化學(xué)成像和物理性質(zhì)成像工具。IconIR結(jié)合了數(shù)十年的研究和技術(shù)創(chuàng)新，基于Dimension Icon ?原子力顯微鏡的最 新平臺(tái)，實(shí)現(xiàn)卓 越的納米級(jí)屬性成像能力。該系統(tǒng)支持相關(guān)的顯微鏡和化學(xué)成像，具有超高空間分辨率和單層靈敏度，同時(shí)其獨(dú)特的大樣品臺(tái)結(jié)構(gòu)，提供極大的樣本靈活性，大大擴(kuò)展應(yīng)用領(lǐng)域。

大樣品

高性能納米紅外光譜

為廣泛的樣品種類和應(yīng)用提供更高的樣品靈活性和性能.

關(guān)聯(lián)研究

納米尺度化學(xué)和物性成像

提供定量納米化學(xué)、納米力學(xué)和納米電學(xué)數(shù)據(jù).10納米以下

光熱AFM-IR成像

實(shí)現(xiàn)單層靈敏度的高分辨率表征.

下載彩頁

卓 越的納米紅外功能和性能

在單個(gè)系統(tǒng)中，IconIR提供高性能納米級(jí)紅外光譜、化學(xué)成像分辨率和單分子層靈敏度。

Dimension IconIR提供:

· 與FTIR高度一致的高性能納米紅外光譜，優(yōu)于10nm化學(xué)成像分辨率和單分子層靈敏度

· 化學(xué)成像可與PeakForce Tapping?納米機(jī)械和納米電學(xué)關(guān)聯(lián)

· 高性能AFM成像和極大的樣品靈活性，可容納大尺寸樣品*

· 廣泛適用的應(yīng)用組件和AFM功能模塊

*標(biāo)準(zhǔn)系統(tǒng)支持150mm大樣品，也可提供能夠容納更大樣品的版本

完整的關(guān)聯(lián)研究顯微鏡

集成Bruker特有的PeakForce輕敲納米物性成像和納米紅外光譜技術(shù)，Dimension IconIR系統(tǒng)的大樣本平臺(tái)特別適合于電學(xué)或化學(xué)反應(yīng)環(huán)境中材料和活性納米系統(tǒng)，甚至是具有強(qiáng)機(jī)械異質(zhì)性的復(fù)雜系統(tǒng)的關(guān)聯(lián)研究。

IconIR提供：

先進(jìn)的定量屬性成像技術(shù)

用于定量納米化學(xué)，納米機(jī)械和納米電學(xué)表征的完整關(guān)聯(lián)研究方案

包埋在環(huán)氧樹脂中的碳纖維的納米化學(xué)成像(AFM-IR)

包埋在環(huán)氧樹脂中的碳纖維的納米熱物性成像(SThM)

包埋在環(huán)氧樹脂中的碳纖維的納米電學(xué)成像(PF-KPFM)

高性能納米紅外光譜

PS-LDPE共混物不同區(qū)域的高質(zhì)量共振增強(qiáng)納米紅外光譜，展示了高度的材料敏感性和對(duì)納米尺度材料特性的深入解析

布魯克是基于光熱AFM-IR納米紅外光譜技術(shù)的發(fā)明者，并擁有多項(xiàng)專 利和獨(dú)特的納米紅外模式。這些模式使IconIR能夠提供與FT-IR光譜一致的高速、高性能光譜。模式的多樣性為工業(yè)和學(xué)術(shù)用戶的廣泛樣本提供測試支持。

IconIR提供：

與FT-IR一致的高性能，豐富，詳細(xì)的光譜，實(shí)現(xiàn)單分子光譜

共振增強(qiáng)AFM-IR，納米紅外領(lǐng)域的首 選技術(shù)，已發(fā)表大量科學(xué)出版物

高性能輕敲模式AFM-IR光譜

超高分辨率化學(xué)成像

Icon業(yè)界領(lǐng)先的AFM性能和Bruker專 利的輕敲AFM-IR成像共同提高了納米紅外技術(shù)的空間分辨率和樣品適用性，并將其應(yīng)用擴(kuò)展到光熱AFM-IR技術(shù)目前尚未解決的領(lǐng)域。

IconIR提供：

· 優(yōu)于10nm的空間分辨率，用于廣泛的材料類型(包括軟質(zhì)材料)的化學(xué)成像

· 分子層靈敏度用于薄膜及生物結(jié)構(gòu)成像

· 一致，可靠，高質(zhì)量的可發(fā)表數(shù)據(jù)

· 聚合物薄膜的可靠表面敏感化學(xué)測量

超高分辨率PS-b-PMMA嵌段共聚物的輕敲AFM-IR成像 樣品形貌(a);1730cm-1的紅外成像(b)和1492cm-1的紅外成像(c)分辨突出顯示PMMA和PS的分布。(b)圖中的黃色箭頭所示結(jié)構(gòu)展示了優(yōu)于10nm的化學(xué)分辨率。紅外成像疊加圖(d)顯示組分的分布。

淺表面化學(xué)信息檢測

表面靈敏模式采集表面涂層的光譜信息(綠色曲線)，共振增強(qiáng)模式采集體積范圍的信息，包括表面涂層和下層體材料(褐色曲線)

采用布魯克最新專利表面靈敏模式，IconIR將探測深度從500納米降低到數(shù)十納米，無需制備截面，無縫結(jié)合高空間分辨率和高表面靈敏度。