產品介紹：

GAMMA-X N型同軸HPGe探測器適用于能量范圍為~3 keV及以上的高性能伽馬能譜測量。

GAMMA-X（GMX）探測器是一款同軸高純鍺（HPGe）探測器，具有超薄入射窗口。大多數同軸探測器具有500至1000微米厚的入射窗口，但該探測器的入射窗口是一個0.3微米厚的離子注入接觸面，將較低的有用能量范圍擴展至約3 keV。離子注入將產生完全穩定的接觸面，其不會隨著重復回溫循環而惡化。此外，N型HPGe探測器已經證明能夠抵抗快中子損傷。

GAMMA-X系列特征：

• GAMMA-X效率標準產品可達100％，還可應要求提高。

• 譜測量從3 keV向上。

• 超薄硼離子注入輻射窗口，是康普頓抑 制系統的理想選擇。

• 抗中子損傷；用戶自修復中子損傷選件。

• 出色的能量分辨率和峰對稱性。

• SMART偏壓選件。

• 惡劣環境（-HE）選件。

• 鈹窗口配有保護罩；鋁或碳纖維窗口選件可免費提供。

• 低本底碳纖維端蓋選件。

• 外加前置放大器選件適用于超高計數率應用。

• 巨大的配置靈活性，PopTop、Streamline和機械冷卻選項。

可選附件：

集成低溫冷卻系統選件（-ICS-E）
集成低溫冷卻系統（ICS）低溫恒溫器配備有低溫冷卻器，不受回溫循環的影響。與使用標準型低溫恒溫器探測器的典型三天損失不同，ICS可以立即重新冷卻，最 大限度地減少因臨時回溫而損失的任何時間。

SMART-1選件 (-SMN)
SMART-1選件用于監控和報告重要的系統功能，還可保存驗證碼并在稍后報告該驗證碼。它包括高壓，因此所有儀器都不需要外部高壓電源。SMART-1采用堅固的ABS模塑塑料外殼，并通過模塑密封電纜牢牢地固定在探測器端蓋上。這可避免探測器因水分泄漏到高壓連接器中而受到嚴重損壞。SMART-1可以放置在任何方便使用的位置，不會干擾屏蔽罩或其他安裝硬件。

超高計數率前置放大器選件（-PL）
超高計數率前置放大器（晶體管復位前置放大器）可在1 MeV下處理高達1,000,000個計數/秒的輸入計數率，并具有無反饋電阻的額外優勢。

惡劣環境選件（-HE）
惡劣環境選件是一個堅固的碳纖維端蓋，配有密封的電子設備外殼，并帶有可更換的干燥劑包，用以確保電子設備保持100％干燥并指示何時需要更換干燥劑包。直徑為76 mm或更大PopTop封裝設計中的GMX系列探測器可配備此選件。

遠程前置放大器選件（-HJ）
此選件讓所有前置放大器和高壓接頭位于屏蔽之外，并將前置放大器和高壓濾波器從Ge晶體的“視線”移開。對于低本底應用，此選件消除了可能增加屏蔽罩內部本底的任何可能性，來源于前置放大器或高壓濾波器組件。

低本底碳纖維端蓋選件（-RB、-LB-C和-XLB-C）
低本底碳纖維端蓋與Al、Mg和Cu一樣堅固，產生的本底少，不腐蝕，并且可以檢測低于10 keV的能量。這種較低的本底材料可在特定計數時間內降低最小可探測活度（MDA），這為在低本底計數應用中增加樣品通量提供了另一種方法。碳纖維的低Z值可提供低能量窗口，而不會產生在大多數合金中發現的額外本底。

鋁窗選件（-A）
如果感興趣的能量超過20 keV，則可以選擇全鋁端蓋。

碳纖維窗選件（-CW）
碳纖維窗口可用于大于約8 keV的能量。雖然這個窗口不能通過所有較低的能量，但碳纖維的Z比Al低，并且不存在任何與Be相關的危險。