01配備高亮度、長壽命的肖特基熱場發射電子槍
02分辨率高,30 kV 下優于 0.9 nm 的極限分辨率
03三級磁透鏡設計,束流可調范圍大,最大支持 200 nA 的分析束流
04無漏磁物鏡設計,可直接觀察磁性樣品
05標配低真空模式,以及高性能的低真空二次電子探測器和插入式背散射電子探測器
06標配的光學導航模式,中文操作軟件,讓分析工作更輕松
銷售范圍售全國
入駐年限第10年
營業執照已審核
立即掃碼咨詢
聯系方式:400-855-8699轉8085
聯系我們時請說明在儀器網(www.189-cn.com)上看到的!
場發射掃描電子顯微鏡
SEM4000Pro
SEM4000Pro是一款分析型熱場發射掃描電子顯微鏡,配備了高亮度、長壽命的肖特基場發射電子槍。三級磁透鏡設計,束流max可達200 nA,在EDS、EBSD、WDS等應用上具有明顯優勢。標配低真空模式,以及高性能的低真空二次電子探測器和插入式背散射電子探測器,可觀察導電性弱或不導電樣品。標配的光學導航模式,以及直觀的操作界面,讓您的分析工作倍感輕松。
豐富的擴展能力
產品優勢
應用案例
產品參數
關鍵參數 | 分辨率 | 0.9 nm @ 30 kV,SE |
2.5 nm @ 30 kV,BSE,30 Pa | ||
1.5 nm @ 30 kV, SE, 30 Pa | ||
加速電壓 | 200 V ~ 30 kV(35kV可選) | |
放大倍率 | 1 ~ 1,000,000 x | |
電子槍類型 | 肖特基場發射電子槍 | |
樣品室 | 低真空模式 | 最大180 Pa |
攝像頭 | 雙攝像頭 | |
(光學導航+樣品倉內監控) | ||
行程 | X=110 mm,Y=110 mm,Z=65 mm | |
T: -10°~+70°,R: 360° | ||
探測器和擴展 | 標配 | 倉室內電子探測器(ETD) |
低真空二次電子探測器(LVD) | ||
插入式背散射電子探測器(BSED 五分割,可選配) | ||
選配 | 能譜儀(EDS) | |
背散射衍射(EBSD) | ||
插入式掃描透射探測器(STEM) | ||
樣品交換倉(4 寸 /8 寸) | ||
軌跡球&旋鈕板 | ||
軟件 | 語言 | 中文SEM軟件 |
操作系統 | Windows | |
導航 | 光學導航、手勢快捷導航、軌跡球(選配) | |
自動功能 | 自動亮度對比度、自動聚焦、自動像散 |