德國應用光譜TranSpec白光干涉膜厚儀
德國應用光譜Plasma Emission Messurement System白光干涉膜厚儀
應用光譜TranSpec ----Mirco白光干涉膜厚儀
德國應用光譜TranSpec -Lite白光干涉膜厚儀
Filmetrics F20 白光干涉膜厚測量儀
等離子體發射測量
在紫外線…近紅外線范圍可同時觀察到等離子發射
低壓等離子沉積技術是一個客觀的連續不斷的過程，如PVD（物理氣象沉積）是今天真正的問題之一。除了等離子體發射光的表觀檢查，有時也使用質譜技術。但是質譜技術既不方便操作，其結果也不容易理解。與此相比，使用OES（發射光譜）和光纖耦合TranSpec光譜儀的有點是顯而易見的。
技術特征
在200…1000nm光譜范圍內可同時測量
可檢測非常底的發射信號
可連接到幾乎每個真空室
無需維護
舒適和易于使用的PEMProVis專業版軟件
用于全球主要的汽車燈以及CD生產商進行有機膜厚測試
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Filmetrics F54 白光干涉膜厚測量儀能以一個電動R-Theta平臺自動移動到選定的測量點以每秒測繪兩個點的速度快速的測繪薄膜厚度, 樣品直徑達450毫米，可選擇數十種內建之同心圓,矩形,或線性圖案模式,或自行建立無數量限制之測量點.只需具備基本電腦技能，就可在數分鐘內自行建立配方。
Filmetrics F50 白光干涉膜厚測量儀依靠光譜測量系統，可以簡單且快速地獲得直徑450毫米的樣品薄膜的厚度分布圖。采用r-θ極坐標移動平臺，可以快速的定位所需測試的點并測試厚度，測試非?？焖伲蠹s每秒能測試兩點。用戶可以自己繪制需要的點位地圖。Filmetrics F50 白光干涉膜厚測量儀配置精度高使用壽命長的移動平臺，以求能夠做成千上萬次測量。
Filmetrics F60-t 白光干涉膜厚測量儀就像我們的F50白光干涉膜厚測量儀產品一樣。主要測繪薄膜厚度和折射率。但它增加了許多用于生產環境的功能。這些功能包括凹槽自動檢測、自動基準確定、全封閉測量平臺、預裝軟件的工業計算機，以及可以升級到全自動化晶圓傳輸的機型。
Filmetrics F32 白光干涉膜厚測量儀特殊的光譜分析系統采用半寬的3u rack- mount底盤，加上附加的分光計，可達到四個不同的位置(EXR和UVX版本至多兩個位置)。F32膜厚儀軟件可以通過數字I/O或主機軟件來控制啟動/停止/復位測量。測量數據可以自動導出到主機軟件中進行統計過程控制。還提供可選的透鏡組件，以便于集成到現有的生產裝置上。
無論您是想要知道薄膜厚度、光學常數，還是想要知道材料的反射率和透過率，Filmetrics F20 膜白光干涉儀厚儀都能滿足您的需要。僅需花費幾分鐘完成安裝，通過USB連接電腦，設備就可以在數秒內得到測量結果?；谀K化設計的特點，Filmetrics F20 白光干涉儀測厚儀適用于各種應用。
Filmetrics F54-XY-200 白光干涉膜厚測量儀借助光譜反射系統，可以測量尺寸達200 x 200mm樣品的薄膜厚度電動XY工作臺自動移動到選定的測量點并提供厚度測量，達到每秒兩點。您可以從數十種預定義的極性，矩形或線性測量坐標圖案中選擇，也可以創建自己編輯的測量點數量。此桌面系統只需幾分鐘即可完成設置，任何具有基本計算機技能的人都可以使用。
營業執照未審核
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滬公網安備 31011502008050號