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梅特勒XPR 微量分析天平
- 品牌：梅特勒-托利多
- 產地：歐洲 瑞士
- 供應商報價：面議
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上海昊擴科學器材有限公司
更新時間：2025-04-29 09:49:19 -
銷售范圍售全國
入駐年限第6年
營業執照已審核
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詳細介紹
梅特勒XPR 微量分析天平
產品簡介
可直接加樣到目標容器中的容量更大。
技術規格：秤量 52 g，可讀性為 1μg
高效安全的稱量：Ergo Clips 組件、Smart Grid 網格秤盤：輕松稱量，速度更快
zui大可靠性：測試管理器，自動內部調整，稱量指南
質量的保證：Level Control 水平控制系統 ，用戶配置文件
技術參數
型號
zui大秤量
可讀性
秤盤尺寸
重復性
（典型）
zui小稱量值(USP)，典型值
XPR36C
32g
1μg
35mm（直徑）
0.7μg
2.5μg
XPR36C/AC
32g
0.001mg
L40mm×H40mm
0.0006mg
1.2mg
XPR56C
52g
1μg
35mm（直徑）
0.8μg
4μg
XPR56/AC
52g
0.001mg
L40mm×H40mm
0.0007mg
1.4mg
XPR56C/AC
52g
0.001mg
L40mm×H40mm
0.0006mg
1.2mg
XPR56DR/AC
52g/11g
0.01mg/0.001mg
L40mm×H40mm
0.001mg
2mg
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