全新 M6 — — 飛行時間二次離子質譜（TOF-SIMS）先進科技

       M6 是 IONTOF 在 TOFSIMS 5 基礎上開發的新一代高端飛行時間二次離子質譜（TOF-SIMS）儀器，對一次離子源（LMIG）和質量分析器（TOF Analyser）進行了突破性的改進。

       此外，在硬件方面還增加了 MS/MS 功能選項，重新設計了加熱和冷卻系統；在軟件方面新增了多元統計分析（MVSA）軟件包。其設計保證了 SIMS 應用在所有領域的高端性能。

       新的突破性離子束和質量分析器技術使 M6 成為二次離子質譜（SIMS）儀器中的耀眼光芒、工業和學術研究的理想工具。

全新 M6 具有以下突出優勢：

• 1      新型 Nanoprobe 50 具有高橫向分辨率 (< 50 nm)

• 2      質量分辨率 > 30,000

• 3      獨特的延遲提取模式可同時實現高傳輸，高橫向質量

• 4      廣域的動態范圍和檢測限

• 5      用于闡明分子結構具有 CID 片段功能的 TOF MS/MS

• 6      先進智能的 SurfaceLab 7 軟件，包括完全集成的多元統計分析 (MVSA) 軟件包

• 7      新型靈活按鈕式閉環樣品加熱和冷卻系統，可長期無人值守運行

有關TOFSIMS的更多資料，請移步我司官網：http://www.iontof.com.cn/bk_22421317.html