INSTEC 顯微鏡冷熱臺 HCS621GXY
INSTEC 顯微鏡高溫熱臺 HS1500G
INSTEC 半導體冷熱臺 無耗材 TS102GXY TS102VXY
INSTEC 微型探針冷熱臺 HCP421V-PM
INSTEC 微型線軌探針冷熱臺 HCP421V-MP
mimi型溫控探針臺，可集成到各種光學設備
可編程控溫，涵蓋-190℃~400℃
適用 10 mm ~26 mm 晶圓和器件
可抽真空的腔體，亦可充入保護氣體使用
獨立的四個探針，可從設備外部移動探針進行點針,
模塊化設計，可自由組合
可從溫控器或電腦軟件控制，可提供軟件SDK
SMA接頭轉BNC四探針，手動點針
| 溫度范圍 | -190℃~400℃（負溫需配液氮制冷） |
| 加熱塊材質 | 銀 |
| 傳感器/溫控方式 | 100Ω鉑RTD / PID控制（含LVDC降噪電源） 30℃/min |
| 最小溫控速度 | ±0.01℃/min |
| 溫度分辨率 | 0.01℃ RTD傳感器 |
| 溫度穩定性 | ±0.05℃（>25℃），±0.1℃（<25℃） |
| 軟件功能 | 可設溫控速率，可設溫控程序，可記錄溫控曲線 |
| 探針 | 默認為錸鎢材質的彎針探針 |
| 探針座 | 可從外部XYZ移動的探針臂 |
| 點針 | 從外部移動點針，每個探針座都可點到樣品區上任意位置 |
| 探針接口 | 默認為SMA接頭轉BNC *可增設腔內接線柱（樣品接電引線） |
| 樣品臺面電位 | 默認為電接地，可選電懸空（作背電極），可選三同軸接口 |
| 適用光路 | 反射光路 |  |
| 窗片 | 可拆卸與更替的窗片 | |
| 最小物鏡工作距離 | 8/12 mm （可選） *截面圖中WD | |
| 上蓋窗片觀察 | 窗片范圍φ45mm，最大視角±50° *截面圖中θ1 | |
| 負溫下窗片除霜 | 吹氣除霜管路 |
| 適用樣品 | 26 mm直徑 （標準） |
| 樣品腔高 | 4/8 mm （可選） |
| 探針座 | 可從外部XYZ移動的探針臂 粗調模式+微調模式，XY粗調20mm |
| 調節精度 | 10um |
| 氣氛控制 | 真空腔，也可充入保護氣體 |
| 外殼冷卻 | 可通循環水，以維持外殼溫度在常溫附近 |
| 臺體尺寸/重量 | 300 mm x 300 mm x 40 mm / 4kg |
基本配置 真空型臺式探針臺、mK2000B溫控器
可選配件 安裝支架、液氮制冷系統、外殼循環水冷系統、顯微鏡頭、防震桌、真空系統、測試源表、三同軸BNC、臺面電懸空、樣品接電引線
| TP102V-MPS | 溫度范圍 -40℃ ~ 180℃，樣品區,40mm*40mm |
| HCP421V-MPS | 溫度范圍 -190℃ ~ 400℃，樣品區 Φ26mm |
| HCP402V-MPS | 溫度范圍 -190℃ ~ 400℃，樣品區 50mm*50mm |
| HP1000G-MPS | 溫度范圍 35℃ ~ 1000℃，樣品區 25mm*25mm,氣密腔室 |
| 定制型號 | 按客戶需求定制，最大適用300mm晶圓樣品 |
典型應用表征薄膜、二維材料、納米材料和分子/有機材料器件的電性能測試
需要加熱塊表面電接地、接同軸BNC接口、三同軸BNC接口的
需要鎢錸探針、鈹銅探針或其他材料的探針的
需要從外部對臺體內探針進行XYZ移動的
晶圓、半導體器件、集成電路、印刷電路板、光伏板、LCD/LED測試
測量IV和CV特性、擊穿電壓、漏電流、電阻、介電常數和二極管效率
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已咨詢23次INSTEC 冷熱臺
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已咨詢430次光譜變溫附件探針臺
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已咨詢23次INSTEC 冷熱臺
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已咨詢42次探針臺
在日常的顯微鏡操作中體驗到更高的效率和舒適度。Visoria M材料顯微鏡適用于金屬、電子和聚合物行業以及材料科學實驗室。 使用編碼的功能、優化的光強設置及其他顯微鏡功能可以提高您的工作流程效率。此外，顯微鏡的人體工學設計讓您能更加舒適地工作，最大限度減少勞損。
在日常的顯微鏡操作中體驗到更高的效率和舒適度。Visoria P偏光顯微鏡使用偏光來研究材料和地質樣品的光學特性。 使用編碼的功能、優化的光強設置及其他顯微鏡功能可以提高您的工作流程效率。此外，顯微鏡的人體工學設計讓您能更加舒適地工作，最大限度減少勞損。
HCS621GXY專為顯微鏡/光譜儀設計。此款冷熱臺可在 -190℃ ~ 600℃ 范圍內控溫，同時允許光學觀察和樣品氣體環境控制。熱臺上蓋與底殼構成一個氣密腔，可往內充入氮氣等保護氣體，來防止樣品在負溫下結霜，或高溫下氧化。此外冷熱臺帶有可從密封腔外移動樣品的XY樣品微分移動尺。此外另有真空腔型號HCS421VXY提供。
HS1500G高溫熱臺專為顯微鏡/光譜儀上的超高溫應用設計，可用于陶瓷、冶金、地質、高溫材料等領域。可加裝樣品接電引線，可定制樣品區。此款高溫熱臺可在 30℃ ~ 1500℃ 范圍內控溫，同時允許光學觀察和樣品氣體環境控制。熱臺窗蓋與臺體構成一個氣密腔，且樣品區偏離視窗中心，這樣即可以充入氮氣等保護氣體，來防止樣品高溫下反應，又可以通過旋轉窗片來移開窗片上的揮發物。
TS102GXY / TS102VXY可用于顯微鏡等光學設備。冷熱臺的溫控基于帕爾貼半導體溫控片（TEC），無需液氮制冷耗材即可達到 -40℃，適合長時間實驗。冷熱臺使用25 mm x 75 mm標準載玻片，并可進行顯微鏡下樣品精密移動。 TS102GXY的熱臺上蓋與臺體構成一個氣密腔，TS102VXY的則是真空腔，腔內可以充入保護氣體或抽真空（依據不同型號），來防止樣品在負溫下結霜。
HCP421V-PM可單獨使用，也可搭配顯微鏡/光譜儀使用。其可在 -190℃ ~ 400℃ 范圍內控溫，同時允許探針電測試、光學觀察和樣品氣體環境控制。探針臺上蓋與底殼構成一個可抽真空的密封腔，亦可內充入氮氣等保護氣體，來防止樣品在負溫下結霜，或高溫下氧化。
HCP421V-MP可單獨使用，也可搭配顯微鏡/光譜儀使用。其可在 -190℃ ~ 400℃ 范圍內控溫，同時允許探針電測試、光學觀察和樣品氣體環境控制。探針臺上蓋與底殼構成一個可抽真空的密封腔，亦可內充入氮氣等保護氣體，來防止樣品在負溫下結霜，或高溫下氧化。
HCP421V-MPS Instec的真空型mini臺式探針臺系列是可從外部移動探針進行點針的桌上型探針臺，涵蓋多型號、多溫度范圍。同時允許溫控、探針電測試、光學觀察和樣品氣體環境控制。探針臺上蓋與底殼構成一個可抽真空的密封腔，亦可內充入氮氣等保護氣體，來防止樣品在負溫下結霜，或高溫下氧化。
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滬公網安備 31011502008050號