掃描NV探針顯微鏡(Scanning nitrogen-vacancy probe microscope,SNVM)是一款結合了金剛石氮-空位色心(Nitrogen-Vacancy, NV)光探測磁共振(Optically Detected Magnetic Resonance, ODMR)技術和原子力顯微鏡(Atomic Force Microscope,AFM)掃描成像技術的量子精密測量儀器,可實現對磁性樣品高空間分辨率、高靈敏度、定量無損的磁成像。
掃描NV探針顯微鏡(Scanning nitrogen-vacancy probe microscope,SNVM)是一款結合了金剛石氮-空位色心(Nitrogen-Vacancy, NV)光探測磁共振(Optically Detected Magnetic Resonance, ODMR)技術和原子力顯微鏡(Atomic Force Microscope,AFM)掃描成像技術的量子精密測量儀器,可實現對磁性樣品高空間分辨率、高靈敏度、定量無損的磁成像。
核心參數
SNVM核心參數 | 室溫版 | 低溫版 |
磁測量靈敏度 | ≤2 μT/Hz1/2 | ≤5 μT/Hz1/2 |
空間分辨率 | 10-30 nm | 10-30 nm |
工作溫度 | 300 K | 2 K-300 K |
核心功能 | 等高線磁成像、定量磁成像、脈沖成像、磁力顯微鏡磁成像、形貌成像 | |
超導磁體選件 | / | 干式:1/1/1 T、3/3/3 T、9/1/1 T 濕式:1/1/1 T、6/1/1 T、6/2/2 T |
應用領域
多鐵性材料
掃描NV探針顯微鏡用于BFO薄膜磁成像
多鐵性材料是一類具有多種鐵電和鐵磁性質的材料,在數據存儲、傳感器技術、自旋電子學、新型電子器件等領域具有廣泛的應用潛力。鐵酸鉍(BiFeO3)作為材料科學中的一個研究熱點,其反鐵磁性讓其磁疇的觀測變的不易。
掃描NV探針顯微鏡因具有較高的磁測量靈敏度,是一種能夠實現BFO實空間反鐵磁序測量的新手段,類似的研究可以擴展到其他相同體系,為自旋電子學的發展指明道路。
參考文獻:Nature 549, 252 (2017)
超導材料
掃描NV探針顯微鏡用于給單個磁通渦旋雜散磁場成像
探究超導材料的微觀機制是現代凝聚態物理的核心課題之一,對于新型超導材料研究至關重要。超導磁通渦旋可反映出超導的基本參數,如相干長度、穿透深度以及超導能隙對稱性等。對磁通渦旋進行表征可為探究超導的微觀機理提供更多的實驗依據。
掃描NV探針顯微鏡能夠實現極低溫下高空間分辨、高靈敏、定量無損的磁通渦旋成像。
參考文獻:Nature Nanotech 11, 677(2016)
二維磁性材料
掃描NV探針顯微鏡用于扭曲雙層CrI3測量
二維磁性材料的發現對于自旋電子學的研究是一個新的方向,在自旋電子學器件方面有潛在應用價值。近年來實驗中發現了一批二維磁性材料,如CrI3、Fe3GeTe2等。因為二維磁性材料的磁場強度弱,轉變溫度低等特點,掃描NV探針顯微鏡具備的高靈敏度、高空間分辨率和環境兼容性,很好的滿足了這方面的測量需求。
參考文獻:Science 374,6571(2021)
測試案例
BFO等高線磁成像
CoFeB等高線磁成像(2 K)
YIG定量磁成像
報價:面議
已咨詢453次量子鉆石原子力顯微鏡
報價:面議
已咨詢381次量子鉆石單自旋譜儀
報價:面議
已咨詢437次量子鉆石顯微鏡
報價:面議
已咨詢141次掃描NV探針顯微鏡
報價:面議
已咨詢278次臺式電子順磁共振波譜儀
報價:面議
已咨詢6172次化學科學
報價:面議
已咨詢6672次表面成像
報價:¥430000
已咨詢225次SPM/AFM 掃描探針原子力顯
報價:面議
已咨詢330次原子力顯微鏡
報價:面議
已咨詢2265次原子力顯微鏡
報價:面議
已咨詢337次臺式掃描電鏡
微孔分析儀 SiCOPE系列 SiCOPE系列微孔分析儀為微孔材料精準表征而設計,在0.35-2 nm孔徑范圍的測量精準度達到國際領先水平。依托精密管路設計和高品質核心部件,結合強大且靈活的數據分析
可測試的等溫線溫度和壓強范圍滿足眾多科研領域需求。該系列產品的高性能,不僅實現了對進口產品的替代,還通過與國際品牌的比對測試,獲得了美國高校實驗室的認可,進入歐美市場,實現了民族品牌的突破。
多項突破性技術帶來的測試結果高精度和高重復性,性能指標媲美國際知名品牌,產品已進入歐美發達國家市場。
可廣泛應用于工業生產線上的產品快速檢測,非常適合三元材料、石墨等電池正負極材料、醫藥輔料等樣品的測試。
產品技術通過機械工業聯合會科技成果鑒定,專家一致評定達到先進水平。多款產品已被歐美高校科研實驗室選購使用,獲得用戶的一致好評,樹立了良好的國產品牌形象。
V-Sorb X800(DM)雙模組多功能型系列產品,是我公司自主研發的比表面積及孔徑分析儀器,采用靜態容量法測量原理。
Climber系列比表面積及孔徑分析儀,可實現快速、精準、穩定測試,支持高達6個樣品同時分析,帶來全新測試體驗。
可廣泛應用于微觀磁共振(NMR、EPR、ODMR)、量子計算、超聲波、雷達、醫學成像等諸多方面,為其提供精確的時序控制功能。