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OPTM 系列顯微分光膜厚儀
- 品牌：上海波銘
- 型號： OPTM
- 產地：上海 浦東新區
- 供應商報價：面議
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上海波銘科學儀器有限公司
更新時間：2025-07-23 18:03:05 -
銷售范圍售全國
入駐年限第5年
營業執照已審核
- 同類產品顯微分光膜厚儀(1件)
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詳細介紹
? 使用顯微光譜法在微小區域內通過JD反射率進行測量，可進行高精度膜厚度/光學常數分析。
? 可通過非破壞性和非接觸方式測量涂膜的厚度，例如各種膜、晶片、光學材料和多層膜。 測量時間上，能達到1秒/點的高速測量，并且搭載了 即使是初次使用的用戶，也可容易出分析光學常數的軟件。
? 頭部集成了薄膜厚度測量所需功能
? 通過顯微光譜法測量高精度JD反射率（多層膜厚度，光學常數）
? 1點1秒高速測量
? 顯微分光下廣范圍的光學系統（紫外至近紅外）
? 區域傳感器的安全機制
? 易于分析向導，初學者也能夠進行光學常數分析
? 獨立測量頭對應各種inline客制化需求
? 支持各種自定義
測量項目：
? JD反射率測量
? 多層膜解析
? 光學常數分析（n：折射率，k：消光系數）
型號
OPTM-A1
OPTM-A2
OPTM-A3
波長范圍
230 ~ 800 nm
360 ~ 1100 nm
900 ~ 1600 nm
膜厚范圍
1nm ~ 35μm
7nm ~ 49μm
16nm ~ 92μm
測定時間
1秒 / 1點
光斑大小
10μm (最小約5μm)
感光元件
CCD
InGaAs
光源規格
氘燈+鹵素燈
鹵素燈
電源規格
AC100V±10V 750VA（自動樣品臺規格）
尺寸
555(W) × 537(D) × 568(H) mm (自動樣品臺規格之主體 部分)
重量
約 55kg（自動樣品臺規格之主體部分）
滬公網安備 31011502008050號