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鎢鉍礦石成分分析標準物質
- 品牌:偉業計量
- 貨號: GBW07284
- 產地:北京 朝陽區
- 供應商報價:面議
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北京北方偉業計量技術研究院
更新時間:2022-04-02 15:02:30
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銷售范圍售全國
入駐年限第6年
營業執照已審核
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基本信息 產品編號 GBW07284 中文名稱 鎢鉍礦石成分分析標準物質
英文名稱 Tungsten-Bismuth Ores
形態 固態 基質 礦石 存儲條件 干燥、遮光、密閉的玻璃瓶中。 用途 地質礦產類/礦石 注意事項 最小取樣量為100mg。 量值信息 組分 標準值 不確定度 單位 As 0.036 0.002 質量分數(10-2) Cu 0.13 0.01 質量分數(10-2) Pb 0.081 0.003 質量分數(10-2) Zn 0.032 0.003 質量分數(10-2) Cd 2.5 0.3 質量分數(10-6) Ni 24.1 1 質量分數(10-6) Co 13.2 1.5 質量分數(10-6) Ag 6.7 0.4 質量分數(10-6) Ga 19.4 1.5 質量分數(10-6) S 0.83 0.04 質量分數(10-2) Se 2.3 0.3 質量分數(10-6) Te 26.7 3.6 質量分數(10-6) Li 0.018 0.002 質量分數(10-2) Sb 16.4 1.3 質量分數(10-6) Bi 0.26 0.01 質量分數(10-2) Sn 0.017 0.003 質量分數(10-2) W 3.66 0.06 質量分數(10-2) Nb 0.01 0.001 質量分數(10-2) Ta 6 0.8 質量分數(10-6) Mo 85 15 質量分數(10-6) 產品詳情
礦石成份分析標準物質
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該標準物質是為地質、選冶的實驗分析廣泛和長遠的需要制備的多金屬礦石標準物質系列的一部分。分別采自我國著名的和有代表性的礦區和礦床。
該標準物質可供地質、冶金、礦山、環保、商檢等部門用于分析方法質量評估、分析質量監控、某些分析工作標準以及進行多金屬礦石及類似物質的主成分和痕量、次量元素分析及研究使用。樣品經敲打、顎式破碎機粉碎,再進入圓盤粉碎后,一次裝入腰鼓形融板式的混樣機混勻。再逐級分裝,經均勻性檢查合格后, 用瓶裝 100 克最小包裝單元發行。
各元素分析方法見表 1,標準值及不確定度見表 2。
均勻性檢驗用 X—射線熒光法測定 As、Sb、Sn、Bi、Mo、W、Pb、Zn、Cu、Zr、Fe、Ti、Mn 等元素。經單因素方差分析實驗設計,F—檢驗和總體參數(端差、相對標準偏差)進行綜合判斷, 證明樣品是均勻的。取樣量不少于 100mg。
樣品分裝至最小包裝,存放在干燥、遮光、密閉的玻璃瓶中, 經過近 10 年不斷對樣品中易變組份硫和高量砷的檢測結果,證明樣品穩定性良好。
參加定值單位:
國家地質實驗測試中心
地質礦產部沈陽綜合巖礦測試中心
地質礦產部南京綜合巖礦測試中心
地質礦產部武漢綜合巖礦測試中心
地質礦產部成都結合巖礦測試中心
湖南省礦產測試利用研究所
地質礦產部甘肅省地質礦產局中心
實驗室地質礦產部宜昌地質礦產研究所
地質礦產部南京地質礦研究所
成都理工學院應用核技術研究所南京大學現代分析中心
表?1 各元素分析方法
元素或組分
分 析 方 法
元素或組分
分 析 方 法
Cu
AA5, COL, ICP-AES,PO L
Nd
ICP-AES, ICP-MS, NA
Pb
AAS, ICP-AES, POL, VOL
Sm
ICP-AES, ICP-MS, NA
Zn
AAS, ICP-AES, NA, POL, VOl
Eu
ICP-AES, ICP-IVB, NA
Cd
AAS,AAN, ICP-AES,POL
Od
ICP-AES, ICP-MS,
Co
AAS, COL, ICP-AES, NA, POL
To
ICP-AES, ICP-MS, NA
Ni
AAS, ICP-AES,NA, POL
Dy
ICP-AES, ICP-MS, NA
?
Ct
AAS, COL, ICP-AES, NA, POL.
Ho
ICP-AES, ICP-MS, NA
As
AF, COL, ICP-AES, NA, VOL,POI, ICP-H-AES
Er
ICP-AES, ICP-MS
So
AF, ICP-AES, NA, COL, VOI, AAS, ICP-H-AES
Tm
ICP-AES, ICP-MS, NA
表?1 各元素分析方法
元素或組分
分析方法
?
元素或組分
分析方法
Bi
AAS,AF,COL,ICP-AES,POL,VOL,ICP-H-AES
Yb
ICP-AES,ICP-MS,NA
Sn
COL,ICP-AES,POL,VOL
Lu
ICP-AES,ICP-MS
W
COL,ICP-AES,NA,POL
Y
ICP-AES,ICP-MS
Mb
COL, ICP-AES,NA,POL
Sc
ICP-AES,NAL
Li
MS,ICP-AES,ICP-AFS,AES
SiO2
COL,GR,VOL
Ag
AAS,AAN,ICP-AES,NA
Fe2O3(T)
AAS,COL,NA,VOL,ICP-AES
S
GR,VOL,POL
Al2O3
COL,VOL
Ga
AAN,COL,ICP-AES
TiO2
COL,ICP-AES
Se
AAN,AF,COL,ICP-AES,NA,POL
MnO
AAS,COL,ICP-AES,VOL,ICP-AFS
Te
AAN,AF,COL,ICP-AES,POL
CaO
AAS,VOL,ICP-AES
Nb
COL,ICP-AES,POL,XRF
MgO
AAS,VOL,ICP-AES,ICP-AFS
Ta
COL,ICP-AES,NAA
K2O
AAS,AES,FP,NA,ICP-AFS
Re
COL,ICP-AES,POL,XRF
Na2O
AAS,AES,FP,NA,ICP-AES,ICP-AFS
La
ICP-AES,ICP-MS,NA
F
COL,ISE
Ce
ICP-AES,ICP-MS,NA
P
COL
Pr
ICP-AES,ICP-MS
?
?
符號說明:
AAS 原子吸收分光光譜法
AES 原子發射光譜法(指出原子吸收光譜儀上進行發射法測量)
AAN 無火焰(電熱、石墨爐)原子吸收分光光譜法
AF 原子熒光光譜法
FP 火焰光度法
ICP 等離子體發射光譜法ICP-MS 等離子質譜分析法ICP-AFS 等離子原子熒光光譜法IC 離子色譜法
VOL 容量分析法
GR 重量分析法
POL 極譜分析法(包括普通極譜和催化極譜)
COL 比色分析法(包括光度分析法)
ISE 離子選擇電極法
NAA 中子活化法(包括超熱中子活化(ENAA,儀器中子活化(INAA)分析法
XRF X—射線熒光光譜法
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表?2 標準值及不確定度
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